2) thickness measurement of thin films
薄膜厚度测定
4) film thickness
薄膜厚度
1.
Effect of film thickness on the magnetic domain of Co_(60)Fe_(20)B_(20) films by MFM;
利用MFM研究薄膜厚度对Co_(60)Fe_(20)B_(20)薄膜磁畴结构的影响
2.
Test methods for film thickness and optical constants;
薄膜厚度和光学常数的主要测试方法
3.
A measuring system of film thickness based on atomic force microscope;
基于原子力显微镜的薄膜厚度检测系统
5) Thickness of film
薄膜厚度
1.
The equation for thickness of film was obtained by the method of characteristics.
并利用特征线法，得到薄膜厚度的方程。
6) thickness of thin film
薄膜厚度
1.
An optical method of online measurement for the thickness of thin films;
一种可实现薄膜厚度在线测量的方法
补充资料：X射线测厚
X射线测厚
X-ray thickness measurement
X SheXJ0n CehOUx射线测厚(X一ray thiekness measurement) 利用波长短、能量大的X射线透过被测物体产生的衰减同被测物体的厚度成正比的原理测量板带材厚度。按此原理制成的仪器为X射线测厚仪，用于板带材的在线测量。X射线测厚仪通过调整X射线管的电压;选择X射线能量，就能适应于各种被测物质。 被测材料对X射线吸收的能力同材料的厚度有如下关系: I~Ioe一心式中I秀射线穿透材料后的射线强度;I。为射线原始强度;几为衰减系数，取决于材质;d为被测材料厚度。由上式可见，射线通过被测材料时是按指数规律衰减的，当久已知时，测定I及I。就可以确定材料厚度d。 X射线测厚仪是各种放射线测厚仪中历史最久的一种，它在20世纪4。年代后期就开始在轧钢生产线上使用口由于轧钢机组的大型化、连续化和高速化，特别是采用计算机作内控制中枢的自动化系统后，X射线测厚仪更成为十分重要的检测仪表.用来为厚度自遥声-‘3 双束式X射线测厚仪原理框图 1一C型架:2一被侧钢板;3毛离室;4一X射线芍; 5杜板;6一X射线管;7一标准楔:8伺报毛动机; 9一偏差枚大器;l。伺服故大器;11一偏差指示表; 12一厚度设定器;飞3一调零装置;飞4一校准开关动控制(AGC)系统提供闭环信号。 X射线测厚仪的测量方式分单射线束和双射线束两种。前者是用同一X射线束进行测量和仪器校正;后者是把X射线束一分为二:一束用于比较测量基准，一束用于被测物体。双束式X射线测厚仪的工作原理(见图)是:一束射线射向被测材料达到上部电离室用于检测;另一束射向标准楔进入下部电离室用于参比。将两束射线透过后的强度进行比较，从平衡点的楔位置求出厚度。单光束响应速度较双束快，但精度不及双光束高。 (李由婉)
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条