1) determining of thin film thickness
膜厚测定
2) film thickness measuring device
膜厚测定仪
3) film thickness measuring
膜厚测定法
4) thickness measurement of thin films
薄膜厚度测定
6) thickness measurement
膜厚测量
1.
Analyzes in detail the principle of thickness measurement of metallic waveguide iris by means of the electromagnetic field theory.
运用电磁场理论对金属波导膜厚测量的原理进行了详细分析,并且研制了一台膜厚测量仪,理论和实践表明:可以通过测量复合金属波导膜系励磁电流的脉冲波形来控制薄膜的生长厚度。
补充资料：膜渗透压测定法
分子式：
CAS号：
性质：又称渗透压法。测定高分子分子量的一种绝对方法。将被测一定浓度的高分子溶液和相应溶剂分别加入到渗透计的溶液池和溶剂池中，溶剂就要通过半透膜渗透到溶液中去，当达到渗透平衡状态时，两部分液体将产生一定的压力差，即渗透压，根据高分子溶液的比浓渗透压具有浓度信赖性可测定该溶液中所溶高分子的分子量。所测为数均分子量（）一般适于测定在1×104～1.5×106范围内的高分子分子量。采用通常的渗透计测定一个试样往往需要几周时间，现多采用的快速自动平衡渗透计，已大大地缩短了测试时间。
CAS号：
性质：又称渗透压法。测定高分子分子量的一种绝对方法。将被测一定浓度的高分子溶液和相应溶剂分别加入到渗透计的溶液池和溶剂池中，溶剂就要通过半透膜渗透到溶液中去，当达到渗透平衡状态时，两部分液体将产生一定的压力差，即渗透压，根据高分子溶液的比浓渗透压具有浓度信赖性可测定该溶液中所溶高分子的分子量。所测为数均分子量（）一般适于测定在1×104～1.5×106范围内的高分子分子量。采用通常的渗透计测定一个试样往往需要几周时间，现多采用的快速自动平衡渗透计，已大大地缩短了测试时间。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条