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1)  wafer test/probe test
晶圆测试/探针测试
2)  Wafer Probe
晶圆测试探针
1.
Wafer Probe Acquires a New Importance in Testing;
晶圆测试探针新的测试价值
3)  wafer probing
晶圆测试,晶圆探测
4)  test probe
测试探针
5)  Wafersort
晶圆测试
6)  Probe test node
探针测试点
补充资料:凯尔文探针测试
分子式:
CAS号:

性质:一种可在空气中进行电化学测试的方法。其原理是在十分靠近试件表面处悬挂一个惰性电极探针,它们之间存在伏打电位差和电容,将探针作正弦波振动,则可在闭合回路中产生交流电流,通过回路中串联的可调电池作比较就可以测量出伏打电位差。理论上已证明伏打电位差与试件的腐蚀电位成正比。该法在20%的相对湿度气相中也能进行电化学测试。

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参考词条