1) final wafer test
晶圆後端测试
2) Wafersort
晶圆测试
3) final test
最後测试
5) wafer probing
晶圆测试，晶圆探测
6) Wafer Probe
晶圆测试探针
1.
Wafer Probe Acquires a New Importance in Testing;
晶圆测试探针新的测试价值
补充资料：凯尔文探针测试
分子式：
CAS号：
性质：一种可在空气中进行电化学测试的方法。其原理是在十分靠近试件表面处悬挂一个惰性电极探针，它们之间存在伏打电位差和电容，将探针作正弦波振动，则可在闭合回路中产生交流电流，通过回路中串联的可调电池作比较就可以测量出伏打电位差。理论上已证明伏打电位差与试件的腐蚀电位成正比。该法在20％的相对湿度气相中也能进行电化学测试。
CAS号：
性质：一种可在空气中进行电化学测试的方法。其原理是在十分靠近试件表面处悬挂一个惰性电极探针，它们之间存在伏打电位差和电容，将探针作正弦波振动，则可在闭合回路中产生交流电流，通过回路中串联的可调电池作比较就可以测量出伏打电位差。理论上已证明伏打电位差与试件的腐蚀电位成正比。该法在20％的相对湿度气相中也能进行电化学测试。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条