1) wafer probing
晶圆测试,晶圆探测
2) Wafersort
晶圆测试
3) Wafer Probe
晶圆测试探针
1.
Wafer Probe Acquires a New Importance in Testing;
晶圆测试探针新的测试价值
4) wafer test/probe test
晶圆测试/探针测试
5) wafer prober
晶圆探测器
补充资料:凯尔文探针测试
分子式:
CAS号:
性质:一种可在空气中进行电化学测试的方法。其原理是在十分靠近试件表面处悬挂一个惰性电极探针,它们之间存在伏打电位差和电容,将探针作正弦波振动,则可在闭合回路中产生交流电流,通过回路中串联的可调电池作比较就可以测量出伏打电位差。理论上已证明伏打电位差与试件的腐蚀电位成正比。该法在20%的相对湿度气相中也能进行电化学测试。
CAS号:
性质:一种可在空气中进行电化学测试的方法。其原理是在十分靠近试件表面处悬挂一个惰性电极探针,它们之间存在伏打电位差和电容,将探针作正弦波振动,则可在闭合回路中产生交流电流,通过回路中串联的可调电池作比较就可以测量出伏打电位差。理论上已证明伏打电位差与试件的腐蚀电位成正比。该法在20%的相对湿度气相中也能进行电化学测试。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条