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1)  digital integrated circuit measuring-testing instrument
数字集成电路测试仪
2)  digital integrated circuit replay function testing instrument
数字集成电路再现功能测试仪
3)  IC test instrument
集成电路测试仪
4)  logic integrated circuit tester
逻辑集成电路测试仪
5)  IC parameter testing
集成电路参数测试
1.
A design of the digital IC parameter testing instrument;
数字集成电路参数测试仪设计
6)  integrative circuit measuring instrument
集成电路测量仪
补充资料:数字集成电路


数字集成电路
digital integrated circuit

数数·701Vac=十SVVcc~15VR:l!R:冬军铃Q一A BD(b)┌───┐ │i·。 │ ├───┼─┬──┐│〔二 │l │l‘ │└───┴─┴──┘AB 图1基本逻样门电路图(a)1了TL‘‘与非”门电路;(b)了TL“与非”门电路(74H系列); (e)ECL“或非”、“或”电路;(d)CMOS‘‘或非”fl电路 按其输出的生成方法,数字IC可分为组合(逻辑)电路和时序(逻辑)电路两种。组合电路的输出只取决于当前输人组合,而不受过去输人的影响。时序电路的输出则取决于当前输人和过去输人所引起的当前状态。由于要保存过去输人的状态,所以时序电路中都有记忆电路。数字IC基本逻辑电路主要有二权替一舀体替逗裤电路(IJTL)、舀体苍一舀体替足牌电路(1,rL)、封权拍合逗褥电路(ECL)和金属一氧化物一半导体逻辑电路(h奴觅】呢ic circuit)。此外还有BICN正冷逻辑电路、集成注人逻辑电路(IIL)及多值逻辑电路(MVL)等。表1为几种主要逻辑电路型式集成电路性能比较。 数字IC分别以高、低电平表示逻辑1和0。若IC用高电平表示逻辑1,低电平表示逻辑0,称为正逻辑电路;反之,高电平对应逻辑0,低电平对应逻辑1的电路称为负逻辑电路。这是在设计数字IC时约定的。 门电路是组合电路中的基本电路,它按照输人端条件产生输出。基本门电路有“与”门、“或”门、“非”f丁、“与非”门、“或非”fl、“与或非”门、“异或”门、“同或”门等。表2中以A,B双输人和Q输出为例给出基本门电路的逻辑表示、电路符号表示和真值表。┌──┐│》1 │└──┘┌──┐│.》1│└──┘┌──┐│ %26 │└──┘┌──┐│ %26 │└──┘县县(a)(b)图2基本R-S触发器电路图和电路符号(a)用“或非”门组成,高电平触发的RS触发器;(b)用“与非”门组成,低电平触发的RS触发器思母县恩叭职叫士 图3基本触发器的电路符号及其工作特性(a)R一S触发器;(b)T触发器;(e)JK触发器:(d)D触发器图1给出了四种型式的典型电路图。以图(b)为例,当A,B同时为高电平时,Tl截止,几导通,导致几,几截止,几导通,输出为低电平;当A,B中有一个为低电平时,Tl导通,几截止,导致几,几导通,几截止,输出为高电平。
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