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1)  scanning Auger microscopy
扫描俄歇显微术
2)  Auger scanning microscopy
俄歇扫描电子显微术
3)  Scanning Auger Microprobe
扫描俄歇微探针
1.
Based on the kinetics of interfacial reaction in C/A1 composi-te materials established in reference [1], the kinetics of interfacial reac-tion zone is measured by Scanning Auger Microprobe Depth Profile for simulated C/Al-Ti and C/Al-Cu specimens subjected to various annealing procedures.
在文献[1]所建立的C/Al复合材料界面反应动力学的基础上,利用扫描俄歇微探针深度分析测量了不同退火工艺的模拟C/Al-Ti和C/Al-Cu样品界面反应层的厚度,求得相应的界面反应激活能,并确定了界面反应从慢到快的顺序为C/Al-Ti、C/Al-Cu和C/Al。
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4)  scanning microscopy
扫描显微术
5)  scanning auger microanalysis
扫描式俄歇微量分析
例句>>
6)  scanning auger microprobe
扫描式俄歇微型探针
例句>>
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)


扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe

扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
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参考词条