1) Auger line scan
俄歇线扫描
2) SAM
[英][sæm] [美][sæm]
扫描俄歇探针
1.
The effect of cooling rate on mechanical properties of 95W Ni Fe alloy in sintered and vacuum heat treated states has been researched by using Scanning Auger Microprobe (SAM) combined with technological tests.
用扫描俄歇探针 ( SAM)结合工艺试验研究了烧结态和经真空热处理的 95W-Ni-Fe合金冷却速度对其性能的影响。
2.
Scanning Auger Microprobe(SAM)and the metallographic method have been used to study the nature of bright lines and spots on fracture surfaces of electroslag remelted 35CrNi3MoV steel and the mechanism of their formation.
用扫描俄歇探针和金相法研究了电渣熔铸３５ＣｒＮｉ３ＭｏＶ钢断口上亮线、亮点的本质和形成机理。
3.
The embrittling mechanism of 95W - Ni - Fe alloy has been researched by using Scanning Auger Microprobe(SAM) combined with heat treatment in vacuum.
用扫描俄歇探针（ＳＡＭ）结合真空热处理试验，研究了９５Ｗ-Ｎｉ-Ｆｅ合金的脆化 机理，发现烧结态合金中散布着氧的高浓度富集区，这是钨合金脆化的重要因素。
3) Scanning Auger Microprobe
扫描俄歇微探针
1.
Based on the kinetics of interfacial reaction in C/A1 composi-te materials established in reference [1], the kinetics of interfacial reac-tion zone is measured by Scanning Auger Microprobe Depth Profile for simulated C/Al-Ti and C/Al-Cu specimens subjected to various annealing procedures.
在文献[1]所建立的C/Al复合材料界面反应动力学的基础上,利用扫描俄歇微探针深度分析测量了不同退火工艺的模拟C/Al-Ti和C/Al-Cu样品界面反应层的厚度,求得相应的界面反应激活能,并确定了界面反应从慢到快的顺序为C/Al-Ti、C/Al-Cu和C/Al。
4) scanning Auger microscopy
扫描俄歇显微术
5) scanning Auger electron spectroscopy
扫描俄歇电子能谱
1.
The diffusion mechanism of GaAs/Pd(50 ?)Ti(400 ?)Pd(400 ?) Au(2 000 ?) in different annealing condition was studied by scanning Auger electron spectroscopy method.
采用扫描俄歇电子能谱法 ,对GaAs/Pd( 50 )Ti( 4 0 0 )Pd( 4 0 0 )Au( 2 0 0 0 )在不同退火条件下多层膜间的扩散机制进行了研究 结果表明 ,薄膜与衬底结合较好 ,各层薄膜之间的扩散随退火温度的升高而更加充分 ,在 4 50℃以上退火后 ,各层薄膜之间发生了充分的扩散 ,并且薄膜与衬底结合更
6) Auger mapping
俄歇元素面分布扫描
补充资料：俄歇电子能谱
测定俄歇电子的能量从而获得固体表面组成等信息的技术。处于激发态的原子可能发生两类过程（图1）。一类是内壳层空穴被外壳层电子所填充,由此释放出能量而产生X射线荧光。另一类是电子由外壳层落到内壳层，用所释放出来的能量打出一个其电离势更低的轨道电子（通常为价电子）。后一个过程称为俄歇过程,以发现此过程的法国科学家P.-V.俄歇命名，被打出来的电子称为俄歇电子。用光或电子轰击固体表面，都能产生俄歇效应。
俄歇电子在固体中运行也同样要经历频繁的非弹性散射，能逸出固体表面的仅仅是表面几层原子所产生的俄歇电子，这些电子的能量大体上处于 10～500电子伏，它们的平均自由程很短，大约为5～20埃,因此俄歇电子能谱所考察的只是固体的表面层。俄歇电子能谱通常用电子束作辐射源，电子束可以聚焦、扫描，因此俄歇电子能谱可以作表面微区分析，并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像。它是近代考察固体表面的强有力工具，广泛用于各种材料分析以及催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。
俄歇电子在固体中运行也同样要经历频繁的非弹性散射，能逸出固体表面的仅仅是表面几层原子所产生的俄歇电子，这些电子的能量大体上处于 10～500电子伏，它们的平均自由程很短，大约为5～20埃,因此俄歇电子能谱所考察的只是固体的表面层。俄歇电子能谱通常用电子束作辐射源，电子束可以聚焦、扫描，因此俄歇电子能谱可以作表面微区分析，并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像。它是近代考察固体表面的强有力工具，广泛用于各种材料分析以及催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条