1) Scanning electron microscopy
扫描电子显微术
1.
1 alloy were investigated via Scanning Electron Microscopy (SEM).
利用扫描电子显微术(SEM)研究了Nd_(12。
2) SEM
扫描电子显微术
1.
At the same time, SEM and XRD are used to investigate the surface morphology and structure characteristics .
利用光致发光技术对在SiC衬底上采用MOCVD异质外延未故意掺杂的GaN进行发光特性的研究 ,发现在室温下有很强的黄光输出 ,同时 ,采用扫描电子显微术和X光衍射对样品的表面形貌和结构进行了研究 ,结果发现 ,随着缺陷密度的减少 ,黄光输出强度也有所降低 ,因此 ,黄光输出强度与缺陷有很大的关
3) scanning electron microscopy
电子扫描显微术
4) low-voltage scanning lelctron nucroscopyl
低电压扫描电子显微术
5) scanning electron acoustic microscopy(SEAM)
扫描电子声学显微术
6) SEM
扫描电子显微技术
1.
Surface Study of Silica-Based HPLC Packings with Scanning Electron Microscope(SEM);
硅基HPLC固定相形貌的扫描电子显微技术研究
补充资料：扫描电子显微术
扫描电子显微术
scanni昭eleetron mieroseoPy
表2扫描电镜的应用技术和用途┌──┬────────┬─────────────┐│分类│…应用技术 │…用途 │├──┼────────┼─────────────┤│专 │斜剖面技术 │分析表面几何形态与亚表层显││门 │ │ 微组织关系 ││制 ├────────┼─────────────┤│样 │蚀坑技术 │断口和腐蚀表面的结晶学分析││技 ├────────┼─────────────┤│术 │铁谱技术 │磨屑分析 ││ ├────────┼─────────────┤│ │SPEED技术和深腐 │三维物理结构显示 ││ │蚀技术 │ │└──┴────────┴─────────────┘术显微电子通道显微术卜—一--一}电子声学显微术观察磁畴结构观察表面台阶，PN结和表面 漏磁场位向衬度象，进行有关晶体学 分析力学衬度象，进行有关力学分 析显微组织观察和分析技术X射线投影显微术内部缺┌─────────┬─────────────┐│电子背散射花样技术│晶体位向分析 ││(EBSP) │ │├─────────┼─────────────┤│反射电子衍射技术 │高空间分辨率晶体结构分析 ││(RED) │ │├─────────┼─────────────┤│X射线柯塞尔花样技 │品体的弹性应变和塑性应变分││术(XKP) │ 析 │├─────────┼─────────────┤│X射线能谱分析 │10月m深度元素分析，探测极 ││(EDS) │ 限为750 PPm │├─────────┼─────────────┤│X射线波谱分析 │10尽m深度元素分析，探测极 ││(WDS，一 │ 限为100 PPm │├─────────┼─────────────┤│X射线荧光分析 │10尽m深度元素分析，探测极 ││(XFS) │ 限为10 ppm │├─────────┼─────────────┤│阴极发光谱分析 │10召m深度元素分析，探测极 ││(CLS) │ 限为IPPm │├─────────┼─────────────┤│激光拉曼谱分
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参考词条