1) Auger scanning microscopy
俄歇扫描电子显微术
2) scanning Auger microscopy
扫描俄歇显微术
3) scanning Auger microprobe
扫描俄歇电子微探针
4) Scanning electron microscopy
扫描电子显微术
1.
1 alloy were investigated via Scanning Electron Microscopy (SEM).
利用扫描电子显微术(SEM)研究了Nd_(12。
5) scanning electron microscopy
电子扫描显微术
6) SEM
扫描电子显微术
1.
At the same time, SEM and XRD are used to investigate the surface morphology and structure characteristics .
利用光致发光技术对在SiC衬底上采用MOCVD异质外延未故意掺杂的GaN进行发光特性的研究 ,发现在室温下有很强的黄光输出 ,同时 ,采用扫描电子显微术和X光衍射对样品的表面形貌和结构进行了研究 ,结果发现 ,随着缺陷密度的减少 ,黄光输出强度也有所降低 ,因此 ,黄光输出强度与缺陷有很大的关
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条