1) low-voltage scanning lelctron nucroscopyl
低电压扫描电子显微术
2) Scanning electron microscopy
扫描电子显微术
1.
1 alloy were investigated via Scanning Electron Microscopy (SEM).
利用扫描电子显微术(SEM)研究了Nd_(12。
3) scanning electron microscopy
电子扫描显微术
4) SEM
扫描电子显微术
1.
At the same time, SEM and XRD are used to investigate the surface morphology and structure characteristics .
利用光致发光技术对在SiC衬底上采用MOCVD异质外延未故意掺杂的GaN进行发光特性的研究 ,发现在室温下有很强的黄光输出 ,同时 ,采用扫描电子显微术和X光衍射对样品的表面形貌和结构进行了研究 ,结果发现 ,随着缺陷密度的减少 ,黄光输出强度也有所降低 ,因此 ,黄光输出强度与缺陷有很大的关
5) low temperature scanning election microscope (LTSEM)
低温扫描电子显微镜
1.
The ultra structure features of the initial of the fruit body of the button mushroom ( Agaricus bisporus ) have been studied by using low temperature scanning election microscope (LTSEM) in this study.
应用低温扫描电子显微镜 (LTSEM )对双孢蘑菇子实体原基的超微结构特征进行了观察研究。
6) scanning electron acoustic microscopy(SEAM)
扫描电子声学显微术
补充资料：扫描电子显微术
扫描电子显微术
scanni昭eleetron mieroseoPy
表2扫描电镜的应用技术和用途┌──┬────────┬─────────────┐│分类│…应用技术 │…用途 │├──┼────────┼─────────────┤│专 │斜剖面技术 │分析表面几何形态与亚表层显││门 │ │ 微组织关系 ││制 ├────────┼─────────────┤│样 │蚀坑技术 │断口和腐蚀表面的结晶学分析││技 ├────────┼─────────────┤│术 │铁谱技术 │磨屑分析 ││ ├────────┼─────────────┤│ │SPEED技术和深腐 │三维物理结构显示 ││ │蚀技术 │ │└──┴────────┴─────────────┘术显微电子通道显微术卜—一--一}电子声学显微术观察磁畴结构观察表面台阶，PN结和表面 漏磁场位向衬度象，进行有关晶体学 分析力学衬度象，进行有关力学分 析显微组织观察和分析技术X射线投影显微术内部缺┌─────────┬─────────────┐│电子背散射花样技术│晶体位向分析 ││(EBSP) │ │├─────────┼─────────────┤│反射电子衍射技术 │高空间分辨率晶体结构分析 ││(RED) │ │├─────────┼─────────────┤│X射线柯塞尔花样技 │品体的弹性应变和塑性应变分││术(XKP) │ 析 │├─────────┼─────────────┤│X射线能谱分析 │10月m深度元素分析，探测极 ││(EDS) │ 限为750 PPm │├─────────┼─────────────┤│X射线波谱分析 │10尽m深度元素分析，探测极 ││(WDS，一 │ 限为100 PPm │├─────────┼─────────────┤│X射线荧光分析 │10尽m深度元素分析，探测极 ││(XFS) │ 限为10 ppm │├─────────┼─────────────┤│阴极发光谱分析 │10召m深度元素分析，探测极 ││(CLS) │ 限为IPPm │├─────────┼─────────────┤│激光拉曼谱分
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参考词条