1) LSIMS
液体二次离子质谱
2) LSIMS
液体铯枪二次离子质谱
3) liquid second ion mass spectrometry
液相二次离子质谱
4) Liquid secondary ion mass spectrometry
液态二次离子质谱
5) Liquid secondary ion mass spectra
液体次级离子质谱
6) secondary ion mass spectrometry
二次离子质谱
1.
The dopant profiles in silicon sample implanted by BF 2 are measured using secondary ion mass spectrometry (SIMS) and spreading resistance probe (SRP) techniques.
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布 。
补充资料：液体二次离子质谱
分子式：
CAS号：
性质：所谓二次离子质谱是由一次离子轰击样品，使样品电离产生二次离子，由二次离子的质谱得到样品信息。用二次离子质谱法进行有机物分析，样品是置于涂有黏滞液体物(如甘油)的靶上。因此又称为液体二次离子质谱(LSIMS)，以区别于进行无机固体样品分析的二次离子质谱法。二次离子质谱法所用的一次离子通常为氩离子，如果把一次离子改为Cs+，即为液体铯枪二次离子质谱，利用铯枪比氩枪灵敏度高。
CAS号：
性质：所谓二次离子质谱是由一次离子轰击样品，使样品电离产生二次离子，由二次离子的质谱得到样品信息。用二次离子质谱法进行有机物分析，样品是置于涂有黏滞液体物(如甘油)的靶上。因此又称为液体二次离子质谱(LSIMS)，以区别于进行无机固体样品分析的二次离子质谱法。二次离子质谱法所用的一次离子通常为氩离子，如果把一次离子改为Cs+，即为液体铯枪二次离子质谱，利用铯枪比氩枪灵敏度高。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条