1) SPM
微束质子X射线荧光分析
2) micro proton induced X ray emission(μ PIXE)
微米级质子束激发的X射线荧光分析(微束PIXE)
3) μ-XRF
微束X射线荧光分析法
1.
Differentiation of Laser Printer Toners by μ-XRF;
微束X射线荧光分析法鉴别激光打印机墨粉的研究
5) SR-XRF
同步辐射X射线荧光微束分析
6) micro-X-ray fluorescence
微束X射线荧光
1.
A newly micro-X-ray fluorescence spectrometer and applications for non-destructive analysis of archaeological objects;
一种新型的微束X射线荧光谱仪及其在考古学中的应用
2.
The paper concerns in the structures,performances and characteristics and applications for archaeology of a new micro-X-ray fluorescence system based on rotating anode X-ray generator and polycapillary Xray optics.
文章报道一种新型基于X光透镜的微束X射线荧光分析系统的结构、性能和特点及其在考古学中的应用。
补充资料：微束质子X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条