1) FIXE
质子X荧光分析
2) PIXE
质子激发X荧光分析
1.
The PIXE results of the standard samples of particulates are reported.
报告了用质子激发X荧光分析 (PIXE)对国际原子能结构组织的实验室分析比对的颗粒物标准样品的测量结果 ,讨论了此结果和各实验室的PIXE和中子活化分析 (NAA)测量结果与用不同方法测定值的平均值、参考值的比较 ,表明对颗粒物样品分析 ,PIXE的准确度很好 。
4) proton induced X-ray emission (PIXE)
质子激发X射线荧光分析(PIXE)
5) (PIXE)
质子激发X荧光分析法(PIXE)
6) proton induced X-ray emission
质子激发X射线荧光分析
1.
The seven main chemical components of the body and glaze samples of 84 RuGuan porcelains from Qingliangsi kiln and JunGuan porcelains from Juntai kiln are determined by the proton induced X-ray emission(PIXE).
将84个清凉寺窑汝官瓷和钧台窑钧官瓷样品进行质子激发X射线荧光分析,得到每个样品胎和釉的7种主量化学组分。
补充资料：微束质子X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条