1) X-ray fluorescence analysis
X-射线荧光分析
2) X-ray fluorescence analysis
X射线荧光分析
1.
X-ray fluorescence analysis has been used to track and monitor the on-site analysis of rock cuttings in oil drilling field.
本文将X射线荧光分析技术用于石油钻井现场对岩屑进行在线跟踪监测分析,针对粉末状岩屑现场连续取样,并采用多层前馈神经网络BP(Back Propagation)模型,通过数据处理将不同岩层岩性用二进制代码描述,直接输出岩性或岩层的目标向量。
2.
Energy dispersive X-ray fluorescence analysis technology is an important tool of modern analysis ways, which is applied in steel、architecture material、electronic/magnetic material、chemistry industry、petroleum and charcoal、agriculture、environmental sample field .
能量色散X射线荧光分析技术是现代分析方法中的一种重要手段,广泛应用于钢铁、建筑材料、电子/磁性材料、化学工业、石油煤炭、农业、环境样品等领域。
3.
First of all, this paper gives a review of the development and current situation of fundamental parameters method of the energy dispersive X-ray fluorescence analysis and introduces theory and experience fitting form.
首先对能量色散X射线荧光分析基本参数法发展和现状进行了综述,介绍了目前基本参数法中准确程度较高的重要物理常数、参数、荧光强度等理论或经验拟合计算公式,并对其中算法进行了深入的研究,设计并实现基本参数法的计算程序,通过初步应用,取得了如下的成果: (1)由于激发因子与荧光产额、谱线分数、吸收限跃迁因子有关,其计算程序源代码复杂,因此需要对激发因子进行研究,本论文是在前人的理论和大量实验数据基础上进行新的拟合研究,提出了激发因子的计算公式,其准确程度已达到实际的需要。
3) X-ray fluorescence
X射线荧光分析
1.
A premise of X-ray fluorescence analysis is the determined acquisition of the primary energy spectral distribution emitted by the X-ray tube,and the energy spectral distribution function affects the accuracy of the final measurement greatly.
确切知道X射线管激发的原级能谱分布是X射线荧光分析中的一个重要前提,所用能谱分布函数的准确度大大影响了最终的测量结果。
2.
The domestic and the international progress of analysis of single fluid inclusions by synchrotron radiation X-ray fluorescence in recent decades was reviewed.
本文介绍了国内外近十年来用同步辐射X射线荧光分析单个流体包裹体的发展过程和研究进展 ,以及定量分析单个流体包裹体中微量元素含量的估计和修正方法 ,并对流体包裹体在石油地质领域中的一些应用作了简要阐
4) XRF
X射线荧光分析
1.
Study of Application of CdZnTe Detectors in XRF;
CdZnTe探测器在X射线荧光分析中的应用研究
2.
In XRF analysis process,the absorption intensification-matrix effect obviously exist,for the source and formation conditions of the analysed elements' parent materials are different.
在X射线荧光分析过程中,由于分析样品中元素的母质来源及形成条件不同,存在明显的吸收增强-基体效应。
补充资料：X射线荧光分析法
X射线荧光分析法
X-ray fluorescence spec-trometry
X射线荧光分析法(x一ray fluoreseeneespectrometry)一种可以不破坏样品用x射线激发样品而产生X射线荧光的分析方法。可对原子序数大于8的元素进行定性和定量分析。当高速电子激发原子内层电子，被逐出的内层电子空穴由较外层电子填充，电子从较高能态的外层跃迁到较低能态的内层时，释放能量，导致X射线的产生。这种X射线是初级X射线。如果以初级X射线作为激发手段，用来照射样品物质，那么这种物质立即会发出次级射线。这种由于X射线照射物质而产生的次级X射线称为X射线荧光。X射线荧光产生于原子内层电子的跃迁，它们是代表元素特征的谱线。根据X射线荧光的波长(或光子能量)可进行定性分析。根据X射线荧光的强度可进行定量分析。 X射线荧光分析法主要使用X射线荧光谱仪。根据分光原理可分为波长色散型和能量色散型两类。波长色散型由X光管激发源、试样室、晶体分光器、探测器和计数系统等几部分组成。能量色散型则用分辨率较高的半导体探测器和多道脉冲分析器代替晶体分光器和一般探测器(见图)。 X射线荧光分析的特点是:①分析元素范围广。除少数轻元素外，周期表中几乎所有元素都可分析。②分析简便。荧光X射线谱线简单，谱线干扰少，对于化学性质相似的元素，如稀土，不必进行复杂的分离过程，即可分析。③不破坏分析样品，试样形式可多样化。无论固体、粉末、糊状物或液体均可采用。④分析浓度范围宽。从常量到微量均可分析。⑤自动化程度高，可 ┌────┐┌───┐┌────┐│计数率计││计数器││高压电源││ ││ │└────┘└────┘└───┘ ┌─────┐ │脉高 │ │分析器 │ └─────┘ ┌─────┐ │·放人器 │ └─────┘ 波长色散毛许仪┌────┐ │高压电源│ └────┘ ┌────┐ │多道脉冲│ │分析器 │ └────┘ ┌───┐┌───┐ │屏篇 ││数字 │ │显示器││打印机│ └───┘└───┘能晕色散请仪 X射线荧光谱仪示意图同时快速分析多元素.但也有一定的局限性。
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参考词条