1) electron microscopy and electron probe X-ray microanalzer
电镜及电子探针X射线微量分析
2) EPXMA
电子探针X射线微量分析
3) electroprobe X ray microanalyzer
电子探针X射线分析仪
4) electron probe X-ray analyzer
电子探针X射线分析器
6) X-ray electron probe microanalysis
X射线电子探针显微分析
1.
By means of environmental scanning electron microscopy and X-ray electron probe microanalysis,the relationships between relative content of P and those of Al,Cd and Pb in different parts of rice grains were studied.
利用环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,研究了水稻籽粒不同部位P与Al、Cd、Pb含量的关系。
2.
In the present study,the Si levels of 22 oat genotypes in 4 different grain parts (the cortex,aleuronic layer,near aleuronic layer and center of caryopsis) were determined by environmental scanning electron microscopy combining with X-ray electron probe microanalysis,and its relevancy with the contents of other metals in the whole oat grain,including P,Mg,K,Ca,S,Cd,Al and Pb,were analysed.
通过环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,对22个基因型的燕麦籽粒皮层、糊粉层、近糊粉层和颖果中部的Si含量进行测定。
补充资料：电子探针X射线微量分析
分子式：
分子量：
CAS号：
性质：又称电子微探针法。是用一窄束（直径小于1微米）经过聚焦的电子激发固体试样表面产生的X射线，再用一波长或能量色散能谱仪加以检测和分析的方法。该法可提供许多关于表面物理和化学性质的定性和定量的信息。它在冶金和水泥的相研究、合金中颗粒边界的研究、半导体中杂质扩散速率的测定经及多相催化剂活性中心的研究方面都有重要的应用。
分子量：
CAS号：
性质：又称电子微探针法。是用一窄束（直径小于1微米）经过聚焦的电子激发固体试样表面产生的X射线，再用一波长或能量色散能谱仪加以检测和分析的方法。该法可提供许多关于表面物理和化学性质的定性和定量的信息。它在冶金和水泥的相研究、合金中颗粒边界的研究、半导体中杂质扩散速率的测定经及多相催化剂活性中心的研究方面都有重要的应用。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条