1) XRD
多晶粉末X射线衍射
2) Polycrystalline powder X-ray diffraction data
多晶粉末X射线衍射数据
3) polycrystalline
多晶
1.
Purification and stoichiometric concentration control of ZnSe polycrystalline by zone sublimation method;
ZnSe多晶料的提纯与化学比的控制
2.
Research on preparation and structure of porous B-doped polycrystalline diamond;
多孔含硼金刚石多晶体的制备与结构研究
3.
Growth and Characterization of Polycrystalline HgI_2 Films on Amorphous-Si Film Substrate;
非晶硅薄膜上碘化汞多晶薄膜的生长及其性能
4) Polycrystal
多晶
1.
Study of Preparation of Polycrystalline Material of La_(0.5)Sr_(0.5)CoO_3;
La_(0.5)Sr_(0.5)CoO_3多晶靶材制备工艺的研究
2.
Growth of Polycrystalline GaN on Silica Substrate via Ga Nitridation;
采用金属镓层氮化技术在石英衬底上生长多晶GaN
5) polycrystalline silicon
多晶硅
1.
Large grain-sized polycrystalline silicon film obtained by SPC of a-Si: H film deposited by PCVD;
a-Si:H薄膜固相晶化法制备大晶粒多晶硅薄膜
2.
Status and development of photovoltaic industry and producing technology of polycrystalline silicon;
光伏产业和多晶硅技术现状与发展
3.
ESD protection devices on polycrystalline silicon;
ESD保护器件在多晶硅上的实现
6) multicrystalline silicon
多晶硅
1.
Phosphorous gettering of cast multicrystalline silicon wafers from different positions of the ingot;
铸造多晶硅硅片的磷吸杂研究
2.
on electrical properties of multicrystalline silicon prepared by metallurgic method was investigated.
利用四探针电阻测试仪、光学显微镜、扫描电镜、电感耦合等离子发射光谱仪、能谱分析等设备,从晶粒尺寸、组织形态以及晶界析出物等对冶金法制备的多晶硅电阻率的影响。
3.
It is described that a series research of heavy phosphorous diffusion gettering, aluminum and combination of aluminum and phosphorous gettering (evaporation of aluminum on the back of the wafers) are used to fabricate multicrystalline silicon solar cells with different impurity concentration of interstitial oxygen.
对不同氧含量的太阳电池用多晶硅片进行了磷扩散吸杂,铝吸杂及磷铝联合吸杂的研究,用准稳态光电导衰减法(QSSPCD)和太阳电池效率测试系统测试了吸杂前后多晶硅片的少子寿命和IV曲线。
参考词条
补充资料：多晶X射线衍射
用 X射线衍射法研究多晶样品的成分和结构的一种实验方法，也称粉末法。多晶是指由无数微细晶粒组成的细粉状样品或块状样品。
多晶衍射有照相法和衍射仪法两类。常用的粉末照相法为德拜-谢乐法（图 1）。相机为一金属圆筒，内径通常为57.3毫米或114.6毫米,样品装在圆筒的中心轴线上，通过马达带动使它不停地转动；紧贴内壁放置长条形X光底片；入射的单波长X射线经准直管作用在样品上，穿透样品后的 X射线进入射线收集器而被吸收。
当单波长Ｘ射线照到一个细晶上时，若某一晶面与入射线的交角满足布喇格方程（见晶体X射线衍射）的要求，则在衍射角2θ处产生衍射线，在底片上形成一衍射点(图2)。由于粉末样品中晶粒的取向是随机的，每一组晶面(hkl)都能给出相应张角为4θ的圆锥形衍射线，作用在长条底片上就形成了一对对弧线。测量任意一条衍射线与出射孔中心的距离L和入射孔与出射孔间的距离Lk，可算出该衍射线对应的衍射角θ，结合所用的波长λ，代入布喇格方程,可算出晶面间距d值。θ＝(L/Lk)×90°；d＝2λ/sinθ。用目测法或测微光度法测量各衍射线的强度I，就可获得一组d-I数据。将所得d-I数据与标准数据对照，即可鉴定样品的物相。
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
参考书目
H.P.Klug and L.E.Alexander, X-ray DiffractionProcedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 2nd ed., John Wiley & Sons, New York,1974.
多晶衍射有照相法和衍射仪法两类。常用的粉末照相法为德拜-谢乐法（图 1）。相机为一金属圆筒，内径通常为57.3毫米或114.6毫米,样品装在圆筒的中心轴线上，通过马达带动使它不停地转动；紧贴内壁放置长条形X光底片；入射的单波长X射线经准直管作用在样品上，穿透样品后的 X射线进入射线收集器而被吸收。
当单波长Ｘ射线照到一个细晶上时，若某一晶面与入射线的交角满足布喇格方程（见晶体X射线衍射）的要求，则在衍射角2θ处产生衍射线，在底片上形成一衍射点(图2)。由于粉末样品中晶粒的取向是随机的，每一组晶面(hkl)都能给出相应张角为4θ的圆锥形衍射线，作用在长条底片上就形成了一对对弧线。测量任意一条衍射线与出射孔中心的距离L和入射孔与出射孔间的距离Lk，可算出该衍射线对应的衍射角θ，结合所用的波长λ，代入布喇格方程,可算出晶面间距d值。θ＝(L/Lk)×90°；d＝2λ/sinθ。用目测法或测微光度法测量各衍射线的强度I，就可获得一组d-I数据。将所得d-I数据与标准数据对照，即可鉴定样品的物相。
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。
参考书目
H.P.Klug and L.E.Alexander, X-ray DiffractionProcedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 2nd ed., John Wiley & Sons, New York,1974.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。