1) secondary ion background
二次离子本底
2) background ions
本底离子
3) secondary ion
二次离子
1.
The diffussoin of the Boron in transient liquid diffusion bonding area and its neighborhood in the Aero turbo engine using the Boron nuclear reaction particle tracking micrography and secondary ion mass spetrum of the ion explorer are studied.
利用改进的硼的核反应产物粒子径迹显微照相技术和离子探针的二次离子质谱分析方法 ,探明了硼在航空发动机涡轮叶片瞬时液相扩散连接区及其邻域的分布 ,发现硼的扩散是一个多级反应过程 。
4) secondary ion imaging
二次离子像
5) background ion concentration
本底离子浓度
6) secondary ion mass spectrometry
二次离子质谱
1.
The dopant profiles in silicon sample implanted by BF 2 are measured using secondary ion mass spectrometry (SIMS) and spreading resistance probe (SRP) techniques.
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布 。
补充资料：本底辐射(radiationbackground)
【本底辐射】(radiationbackground)指来自欲进行探测或测量的放射源以外任何天然或人工放射源的辐射。它们来自宇宙射线、周围环境中放射性影响和仪器本身（如铅室）的放射性。随环境改变而有明显变化。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条