1) electron probe X-ray analyzer
电子探针X射线分析器
2) electroprobe X ray microanalyzer
电子探针X射线分析仪
3) electron microscopy and electron probe X-ray microanalzer
电镜及电子探针X射线微量分析
5) WD-EPXMA
电子探针X射线波谱分析
6) X-ray electron probe microanalysis
X射线电子探针显微分析
1.
By means of environmental scanning electron microscopy and X-ray electron probe microanalysis,the relationships between relative content of P and those of Al,Cd and Pb in different parts of rice grains were studied.
利用环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,研究了水稻籽粒不同部位P与Al、Cd、Pb含量的关系。
2.
In the present study,the Si levels of 22 oat genotypes in 4 different grain parts (the cortex,aleuronic layer,near aleuronic layer and center of caryopsis) were determined by environmental scanning electron microscopy combining with X-ray electron probe microanalysis,and its relevancy with the contents of other metals in the whole oat grain,including P,Mg,K,Ca,S,Cd,Al and Pb,were analysed.
通过环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,对22个基因型的燕麦籽粒皮层、糊粉层、近糊粉层和颖果中部的Si含量进行测定。
补充资料：电子探针
分子式：
CAS号：
性质：又称电子探针。是目前较为理想的一种微区化学成分分析手段。根据高能电子与固体物质相互作用的原理，利用电子枪发射的高能量电子流通过磁透镜聚焦成直径约0.1～1μm的电子束(电子探针)轰击样品表面，使样品中被打击的微小区域(简称微区)内所含元素的原子激发而产生特征X射线谱。由于不同元素的原子结构各异，激发产生的X射线波长亦不相同。由电子光源、试样台、光学显微镜、X射线谱仪、电子分析部件和真空系统组成。测量各种元素所产生的X射线的波长和强度，来对微小体积中所含元素进行定性和定量分析。可用于测定高分子材料中元素和杂质的浓度及其分布、添加的成分等。该分析仪还可探测被散射电子、二次电子、吸收电子和阴极辉光等形式的分析信息。
CAS号：
性质：又称电子探针。是目前较为理想的一种微区化学成分分析手段。根据高能电子与固体物质相互作用的原理，利用电子枪发射的高能量电子流通过磁透镜聚焦成直径约0.1～1μm的电子束(电子探针)轰击样品表面，使样品中被打击的微小区域(简称微区)内所含元素的原子激发而产生特征X射线谱。由于不同元素的原子结构各异，激发产生的X射线波长亦不相同。由电子光源、试样台、光学显微镜、X射线谱仪、电子分析部件和真空系统组成。测量各种元素所产生的X射线的波长和强度，来对微小体积中所含元素进行定性和定量分析。可用于测定高分子材料中元素和杂质的浓度及其分布、添加的成分等。该分析仪还可探测被散射电子、二次电子、吸收电子和阴极辉光等形式的分析信息。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条