1) local scanner distribution
局部扫描分布
2) partial scan
部分扫描
1.
The possible timing loss in the partial scan design is also considered.
研究了部分扫描触发器的选择 ,对原有的基于状态密度的方法做了一些改进 ,提出一种综合的、基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法 ,并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响 。
2.
Based on the anal ysis of excessive power dissipation of f ull-scan BIST, we present partial scan a lgorithm which selects a portion of regi sters for scan cells to implement low po wer BIST.
在分析全扫描内建自测试 (BIST)过高测试功耗原因的基础上 ,提出了一种选择部分寄存器成为扫描单元的部分扫描算法来实现低功耗 BIST。
3.
A partial scan algorithm for BIST, which combines the structure analysis and testability analysis, is presented in this paper.
提出了一种在内建自测试(BIST)中进行部分扫描的算法,此算法综合了电路的结构分析和可测性分析。
3) Distributed scan
分布式扫描
4) frame sweep unit
帧扫描部分
6) Local Distribution
局部分布
1.
In the medical microscopic images,aiming at the overlapping and adhering cell images,and their local distribution,a new separating algorithm on the basis of the distance transformation are inferred.
在医用显微图像中,针对重叠和粘连在一起的细胞图像,根据其局部分布特性,在距离变换的基础上提出了一种新的基于图像局部像素分布的分割方法。
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条