1) edge scanning
边部扫描
2) boundary scan
边界扫描
1.
An optimal FPGA test algorithm based on boundary scan architecture;
一种基于边界扫描的FPGA测试优化生成算法
2.
Design for testability of digital integrated circuits based on boundary scan technology;
基于边界扫描技术的集成电路可测性设计
3.
SRAM cluster of boundary scan interconnect testing at board level;
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
3) boundary-scan
边界扫描
1.
Information Compressing Algorithm in Boundary-Scan Test;
边界扫描测试信息压缩算法
2.
Design of boundary-scan circuit in RISC CPU;
RISC CPU的边界扫描电路设计与实现
3.
The design of a kind of boundary-scan tester based on virtual instrument technology;
基于虚拟仪器技术的边界扫描测试仪的设计
6) partial scan
部分扫描
1.
The possible timing loss in the partial scan design is also considered.
研究了部分扫描触发器的选择 ,对原有的基于状态密度的方法做了一些改进 ,提出一种综合的、基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法 ,并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响 。
2.
Based on the anal ysis of excessive power dissipation of f ull-scan BIST, we present partial scan a lgorithm which selects a portion of regi sters for scan cells to implement low po wer BIST.
在分析全扫描内建自测试 (BIST)过高测试功耗原因的基础上 ,提出了一种选择部分寄存器成为扫描单元的部分扫描算法来实现低功耗 BIST。
3.
A partial scan algorithm for BIST, which combines the structure analysis and testability analysis, is presented in this paper.
提出了一种在内建自测试(BIST)中进行部分扫描的算法,此算法综合了电路的结构分析和可测性分析。
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条