1) absorption edge fine structure
吸收限精细结构
2) X-ray absorption fine structure
X射线吸收精细结构
1.
Nuclear magnetic resonance (NMR) imaging,X-ray absorption fine structure (XAFS) analysis,transmission electron microscope (TEM),and photocatalytic property testing were carried out.
利用核磁共振仪、扩展X射线吸收精细结构分析、透射电镜对溶胶中的锐钛矿晶体进行深入分析,并考察了锐钛矿晶体的光催化活性。
2.
Sols and films were characterized by X-ray absorption fine structure(XAFS),transmission electron microscopy,and fluorescence emission spectrum,and the photocatalytic performance of the complex film on Rhodamine .
利用X射线吸收精细结构(XAFS)、透射电镜、荧光光谱对溶胶和薄膜进行分析,并考察了薄膜的光催化性能。
3.
The X-ray absorption fine structure spectrum (XAFS) of Fe element in glaze of Ru ware excavated in Qingliang temple was obtained.
本工作测试了宝丰清凉寺出土汝瓷釉中Fe元素的X射线吸收精细结构谱(XAFS),在数据分析中采用主因子分析法结合线性叠加拟合法分析了古汝瓷釉中Fe的价态比例,利用色差计分析了样品的主波长,结果表明,瓷釉中Fe2+/Fe3+大,则釉色偏青,反之则偏黄。
3) X ray absorption fine structure
X射线吸收精细结构
1.
The structural evolution of ultrafine NiB and NiP amorphous alloys prepared by chemical reduction during the annealing process is investigated by X ray absorption fine structure (XAFS), X ray diffraction (XRD) and differential thermal analysis (DTA) techniques.
采用X射线吸收精细结构 (XAFS) ,X射线衍射 (XRD)和差热分析 (DTA)等方法研究了以化学还原法制备的NiB和NiP超细非晶态合金催化剂在退火过程中的结构变化 。
2.
The sulphur 1s and oxygen 1s near edge X ray absorption fine structure (NEXAFS) spectra of (SO+2O)/Cu(100) are analyzed by using the multiple scattering cluster (MSC) method and the cluster electronic structures of (SO+2O)/Cu(100) are examined by a discrete variational (DV) X α study.
利用多重散射团簇 (MSC)方法对 (SO + 2O) /Cu( 1 0 0 )的硫 1s和氧 1s近边X射线吸收精细结构 (NEXAFS)谱的理论分析和利用DV Xα 方法对该系统的团簇电子结构研究 ,揭示了该系统NEXAFS谱反常共振结构的物理起源 。
4) XAFS
X射线吸收精细结构
1.
The local structures of mechanically alloyed Cu-Sn mixtures have been investigated by X-ray absorption fine structure (XAFS) technique.
利用X射线吸收精细结构(XAFS)方法研究了机械合金化(Mechanical alloying,MA)方法制备的Cu-Sn二元金属合金在球磨过程中的结构变化。
2.
Effects of growth conditions including lattice mismatch and growth temperature on the local structures of ZnO films prepared by MBE have been investigated using fluorescence EXAFS at Zn K edge.
利用同步辐射广延X射线吸收精细结构(EXAFS),研究在不同条件下分子束外延制备的ZnO薄膜,如分别在蓝宝石(0001)、Si(100)衬底上,生长温度为200℃或300℃下得到样品的局域结构。
5) X-ray absorption fine structure (XAFS)
X射线吸收精细结构
1.
X-ray absorption spectrum studies on structural evolution of Ni100-xPx alloysX-ray absorption fine structure (XAFS) and x-ray diffraction (XRD) were utilized to investigate the atomic and electronic structures of Ni100-xPx alloys with different P contents prepared by chemical reduction method.
不同磷含量下NiP纳米非晶态合金的结构利用X射线吸收精细结构(XAFS)和X射线衍射(XRD)研究了化学还原法制备的不同磷含量的Ni100-xPx合金的原子和电子结构。
2.
This thesis presents a comprehensive investigation on the Mn-doped IV group (Ge and Si) diluted magnetic semiconductors (DMSs) prepared by the magnetron co-sputtering method, using the fluorescence X-ray absorption fine structure (XAFS), X-ray diffraction (XRD), atomic force microscope (AFM), and Raman spectrum methods.
本论文主要利用同步辐射X射线吸收精细结构谱学(XAFS)技术,结合X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)和拉曼光谱等实验方法联合研究了磁控溅射共溅射方法制备的Mn掺杂IV族稀磁半导体薄膜的结构和性能,获得了Mn掺杂的Si基和Ge基样品中Mn离子的价态、分布和配位环境等结构参数以及磁学性能。
6) extended X-ray absorption fine structure
扩展X射线吸收精细结构
1.
The extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) and x-ray diffraction (XRD) techniques have been used to study the dependence of structural changes on annealing temperature for metastable body centered cubic (bcc) Fe_ 80 Cu_ 20 alloy synthesized by mechanical alloying.
利用扩展x射线吸收精细结构和x射线衍射研究了机械合金化制备的体心立方(bcc)的亚稳态Fe80Cu20合金固溶体的结构随退火温度的变化特点。
补充资料：扩展X射线吸收精细结构
从吸收边以上30～50电子伏特一直扩展到1000电子伏特范围内的吸收系数振荡。英文缩写EXAFS。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条