1) extended X-ray absorption fine structure spectroscopy (EXAFS)
扩展X射线吸收精细结构光谱(EXAFS)
2) extend X ray absorption fine structure (EXAFS)
EXAFS(扩展X射线吸收精细结构谱)
3) Extended X ray absorption fine structure
扩展X射线吸收精细结构谱
4) extended X-ray absorption fine structure
扩展X射线吸收精细结构
1.
The extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) and x-ray diffraction (XRD) techniques have been used to study the dependence of structural changes on annealing temperature for metastable body centered cubic (bcc) Fe_ 80 Cu_ 20 alloy synthesized by mechanical alloying.
利用扩展x射线吸收精细结构和x射线衍射研究了机械合金化制备的体心立方(bcc)的亚稳态Fe80Cu20合金固溶体的结构随退火温度的变化特点。
5) X-ray absorption fine structure spectrum
X射线吸收精细结构光谱
6) X-ray absorption fine structure spectroscopy
X-射线吸收精细结构光谱
补充资料：扩展X射线吸收精细结构
从吸收边以上30～50电子伏特一直扩展到1000电子伏特范围内的吸收系数振荡。英文缩写EXAFS。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条