1) SR-XAFS
X射线吸收精细结构分析
2) X-ray absorption fine structure
X射线吸收精细结构
1.
Nuclear magnetic resonance (NMR) imaging,X-ray absorption fine structure (XAFS) analysis,transmission electron microscope (TEM),and photocatalytic property testing were carried out.
利用核磁共振仪、扩展X射线吸收精细结构分析、透射电镜对溶胶中的锐钛矿晶体进行深入分析,并考察了锐钛矿晶体的光催化活性。
2.
Sols and films were characterized by X-ray absorption fine structure(XAFS),transmission electron microscopy,and fluorescence emission spectrum,and the photocatalytic performance of the complex film on Rhodamine .
利用X射线吸收精细结构(XAFS)、透射电镜、荧光光谱对溶胶和薄膜进行分析,并考察了薄膜的光催化性能。
3.
The X-ray absorption fine structure spectrum (XAFS) of Fe element in glaze of Ru ware excavated in Qingliang temple was obtained.
本工作测试了宝丰清凉寺出土汝瓷釉中Fe元素的X射线吸收精细结构谱(XAFS),在数据分析中采用主因子分析法结合线性叠加拟合法分析了古汝瓷釉中Fe的价态比例,利用色差计分析了样品的主波长,结果表明,瓷釉中Fe2+/Fe3+大,则釉色偏青,反之则偏黄。
3) X ray absorption fine structure
X射线吸收精细结构
1.
The structural evolution of ultrafine NiB and NiP amorphous alloys prepared by chemical reduction during the annealing process is investigated by X ray absorption fine structure (XAFS), X ray diffraction (XRD) and differential thermal analysis (DTA) techniques.
采用X射线吸收精细结构 (XAFS) ,X射线衍射 (XRD)和差热分析 (DTA)等方法研究了以化学还原法制备的NiB和NiP超细非晶态合金催化剂在退火过程中的结构变化 。
2.
The sulphur 1s and oxygen 1s near edge X ray absorption fine structure (NEXAFS) spectra of (SO+2O)/Cu(100) are analyzed by using the multiple scattering cluster (MSC) method and the cluster electronic structures of (SO+2O)/Cu(100) are examined by a discrete variational (DV) X α study.
利用多重散射团簇 (MSC)方法对 (SO + 2O) /Cu( 1 0 0 )的硫 1s和氧 1s近边X射线吸收精细结构 (NEXAFS)谱的理论分析和利用DV Xα 方法对该系统的团簇电子结构研究 ,揭示了该系统NEXAFS谱反常共振结构的物理起源 。
4) XAFS
X射线吸收精细结构
1.
The local structures of mechanically alloyed Cu-Sn mixtures have been investigated by X-ray absorption fine structure (XAFS) technique.
利用X射线吸收精细结构(XAFS)方法研究了机械合金化(Mechanical alloying,MA)方法制备的Cu-Sn二元金属合金在球磨过程中的结构变化。
2.
Effects of growth conditions including lattice mismatch and growth temperature on the local structures of ZnO films prepared by MBE have been investigated using fluorescence EXAFS at Zn K edge.
利用同步辐射广延X射线吸收精细结构(EXAFS),研究在不同条件下分子束外延制备的ZnO薄膜,如分别在蓝宝石(0001)、Si(100)衬底上,生长温度为200℃或300℃下得到样品的局域结构。
5) X-ray absorption fine structure (XAFS)
X射线吸收精细结构
1.
X-ray absorption spectrum studies on structural evolution of Ni100-xPx alloysX-ray absorption fine structure (XAFS) and x-ray diffraction (XRD) were utilized to investigate the atomic and electronic structures of Ni100-xPx alloys with different P contents prepared by chemical reduction method.
不同磷含量下NiP纳米非晶态合金的结构利用X射线吸收精细结构(XAFS)和X射线衍射(XRD)研究了化学还原法制备的不同磷含量的Ni100-xPx合金的原子和电子结构。
2.
This thesis presents a comprehensive investigation on the Mn-doped IV group (Ge and Si) diluted magnetic semiconductors (DMSs) prepared by the magnetron co-sputtering method, using the fluorescence X-ray absorption fine structure (XAFS), X-ray diffraction (XRD), atomic force microscope (AFM), and Raman spectrum methods.
本论文主要利用同步辐射X射线吸收精细结构谱学(XAFS)技术,结合X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)和拉曼光谱等实验方法联合研究了磁控溅射共溅射方法制备的Mn掺杂IV族稀磁半导体薄膜的结构和性能,获得了Mn掺杂的Si基和Ge基样品中Mn离子的价态、分布和配位环境等结构参数以及磁学性能。
6) ultrafast time-resolved EXAFS
超快时间分辨扩展X射线吸收精细结构
补充资料：扩展X射线吸收精细结构谱
物质(除单原子气体外)的 X射线吸收限的高能方向， 对应光电子能量 Ek约在30～1000电子伏范围内，X射线吸收系数的振荡结构称为扩展X射线吸收精细结构谱。其典型例子如图所示。图中光电子能量为0处相当于K吸收限位置。
在物质中，原子吸收X 射线产生光电子波，此光电子波又被邻近原子散射。出射波与散射波相干涉，因此光电子波的末态波函数发生变化，并使吸收过程中的跃迁几率发生变化，从而产生扩展X 射线吸收精细结构谱。
1931年R. del克朗尼格首先对扩展X射线K吸收精细结构谱用晶体的长程序理论进行了计算。以后他又提出了短程序理论。短程序理论经不断改进，到1970年E.A.斯特恩等应用短程序理论（单电子，单次散射近似）计算K吸收谱（也适用于L1吸收谱）,得到了较好的结果。
计算得到的扩展X 射线吸收精细结构谱为
式中m是电子的质量,啚=h/2π，h是普朗克常数,k是光电子波矢，Nj是第j层配位球壳上的原子数,Rj是吸收原子至第j层原子的平均径向距离，tj(2k)是第j层原子的背散射振幅，λ是电子的平均自由程,σ嵂是德拜-瓦勒因子，δj(k)是吸收原子与背散射原子的势能引起的相移。
应用以上结果，由实验测定的X(k)经傅里叶变换及有关计算可得到物质中每一类组成原子的径向结构函数，从而给出吸收原子与邻近原子间的距离、近邻原子数等结构数据。比较不同温度下的测量结果还可获得德拜-瓦勒因子。
近年来由于强辐射源的出现以及相应实验技术的改进，扩展X 射线吸收精细结构谱已经成为研究复杂晶体、非晶态、生物大分子，以及催化剂等材料结构等的较好方法。
近年发展起来的尚有表面扩展X射线吸收精细结构谱，电子能量损失谱等。其原理与X 射线吸收精细结构谱相类似。
参考书目
陈玉、王文采、嵇益民：《物理》,第13卷,第6期,第350页，1984。
陆坤权、赵雅琴、常龙存:《物理学报》,第33卷，第1693页，1984。
在物质中，原子吸收X 射线产生光电子波，此光电子波又被邻近原子散射。出射波与散射波相干涉，因此光电子波的末态波函数发生变化，并使吸收过程中的跃迁几率发生变化，从而产生扩展X 射线吸收精细结构谱。
1931年R. del克朗尼格首先对扩展X射线K吸收精细结构谱用晶体的长程序理论进行了计算。以后他又提出了短程序理论。短程序理论经不断改进，到1970年E.A.斯特恩等应用短程序理论（单电子，单次散射近似）计算K吸收谱（也适用于L1吸收谱）,得到了较好的结果。
计算得到的扩展X 射线吸收精细结构谱为
式中m是电子的质量,啚=h/2π，h是普朗克常数,k是光电子波矢，Nj是第j层配位球壳上的原子数,Rj是吸收原子至第j层原子的平均径向距离，tj(2k)是第j层原子的背散射振幅，λ是电子的平均自由程,σ嵂是德拜-瓦勒因子，δj(k)是吸收原子与背散射原子的势能引起的相移。
应用以上结果，由实验测定的X(k)经傅里叶变换及有关计算可得到物质中每一类组成原子的径向结构函数，从而给出吸收原子与邻近原子间的距离、近邻原子数等结构数据。比较不同温度下的测量结果还可获得德拜-瓦勒因子。
近年来由于强辐射源的出现以及相应实验技术的改进，扩展X 射线吸收精细结构谱已经成为研究复杂晶体、非晶态、生物大分子，以及催化剂等材料结构等的较好方法。
近年发展起来的尚有表面扩展X射线吸收精细结构谱，电子能量损失谱等。其原理与X 射线吸收精细结构谱相类似。
参考书目
陈玉、王文采、嵇益民：《物理》,第13卷,第6期,第350页，1984。
陆坤权、赵雅琴、常龙存:《物理学报》,第33卷，第1693页，1984。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条