1) glancing angle X-ray diffraction
掠射角X射线衍射法
2) grazing incidence X_ray diffraction
掠角入射X射线衍射
1.
The structural properties of these thin films (In/Zn=0, 1, 2, 3 and 5at%) were studied by grazing incidence X_ray diffraction, conventional X_ray diffraction, Fourier transform infrared spectroscopy, atomic force microscopy and photoluminescence.
使用掠角入射X射线衍射(GI_XRD)、常规X射线衍射、傅里叶变换红外光谱、原子力显微镜、光致发光谱以及不同入射角GI_XRD谱(α=1,2,3和5°)等手段,对不同掺杂浓度的ZnO∶In薄膜进行了结构分析。
3) glancing X-ray diffraction
掠射X射线衍射
4) grazing incident X-ray diffraction technique
掠入射X射线衍射法
1.
The sin2ψ method is combined with the grazing incident X-ray diffraction technique to obtain the depth profiles of the residual stress in the ground samples.
传统的X射线衍射法称之为sin2ψ法,通常只能测量工件表层的残余应力;本文介绍了一种残余应力测量新方法,该方法联合使用sin2ψ法和掠入射X射线衍射法从而得到残余应力在试件中的深度分布。
5) grazing X-ray diffraction(GXRD)
掠射法X射线衍射
6) GXRD
掠面x射线衍射
1.
The surface microstructure observation was carried out using glancing x-ray diffraction analysis(GXRD).
利用卢瑟福背散射谱测量了离子注入表面的成分 ,并采用逐层递推法得出了钛在H13钢中的浓度深度分布 ,借助掠面x射线衍射考察了注入表面的相结
2.
ANALYSIS OF SURFACE MICROSTRUCTURE OF ION IMPLANTATION LAYER BY GXRD AND XPS;
借助掠面X射线衍射 (GXRD)和X射线光电子能谱 (XPS)考察了注入表面层的相结构以及钨、铁、碳的化学状态。
补充资料：掠射角X射线衍射法
分子式：
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条