1) X-ray grazing-incidence diffraction
X射线掠入射衍射
2) grazing incidence X_ray diffraction
掠角入射X射线衍射
1.
The structural properties of these thin films (In/Zn=0, 1, 2, 3 and 5at%) were studied by grazing incidence X_ray diffraction, conventional X_ray diffraction, Fourier transform infrared spectroscopy, atomic force microscopy and photoluminescence.
使用掠角入射X射线衍射(GI_XRD)、常规X射线衍射、傅里叶变换红外光谱、原子力显微镜、光致发光谱以及不同入射角GI_XRD谱(α=1,2,3和5°)等手段,对不同掺杂浓度的ZnO∶In薄膜进行了结构分析。
3) grazing incident X-ray diffraction technique
掠入射X射线衍射法
1.
The sin2ψ method is combined with the grazing incident X-ray diffraction technique to obtain the depth profiles of the residual stress in the ground samples.
传统的X射线衍射法称之为sin2ψ法,通常只能测量工件表层的残余应力;本文介绍了一种残余应力测量新方法,该方法联合使用sin2ψ法和掠入射X射线衍射法从而得到残余应力在试件中的深度分布。
4) grazing incidence X-ray diffraction
掠入射X射线衍射
1.
Grazing incidence X-ray diffraction study of La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_3 film;
La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_3簿膜的掠入射X射线衍射研究
5) grazing incidence angle X-ray diffraction(GIAXRD)
掠入射X射线衍射(GIAXRD)
6) glancing X-ray diffraction
掠射X射线衍射
补充资料：掠射角X射线衍射法
分子式：
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条