1) grazing incidence X-ray reflectivity
X射线掠角反射
1.
Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity;
微晶硅薄膜的表面粗糙度及其生长机制的X射线掠角反射研究
2) grazing incidence X_ray diffraction
掠角入射X射线衍射
1.
The structural properties of these thin films (In/Zn=0, 1, 2, 3 and 5at%) were studied by grazing incidence X_ray diffraction, conventional X_ray diffraction, Fourier transform infrared spectroscopy, atomic force microscopy and photoluminescence.
使用掠角入射X射线衍射(GI_XRD)、常规X射线衍射、傅里叶变换红外光谱、原子力显微镜、光致发光谱以及不同入射角GI_XRD谱(α=1,2,3和5°)等手段,对不同掺杂浓度的ZnO∶In薄膜进行了结构分析。
3) Grazing incidence small angle X-ray scattering(GISAXS)
掠入射小角X射线散射
4) glancing angle X-ray diffraction
掠射角X射线衍射法
5) low-angle Xray diffraction
X射线小角度掠射法
6) glancing X-ray diffraction
掠射X射线衍射
补充资料：掠射角X射线衍射法
分子式：
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条