1) secondary ion yield
二次离子产额
1.
It is found that the secondary ion yield was firstly increasing and then decreasing with the increase of the projectile kinetic energy.
实验发现,二次离子产额Y随入射初动能Ek的增加有先增加后减小的关系,在初动能为576 keV时二次离子产额达到最大。
2) Secondary electron yield
二次电子产额
1.
With the code, we can calculate the electron density in the chamber with different length of antechamber and the different secondary electron yield respectively.
本文针对北京正负电子对撞机二期工程 (BEPCⅡ )的具体条件 ,区别于国外的研究编写发展了模拟计算程序 ,首次给出了前室型真空管道中电子云的聚集情况 ,定量计算了不同前室长度 ,不同二次电子产额作用下的电子云密度 ;通过模拟计算研究了在真空管道中放置清洗电极来降低电子云密度并改变密度分布以抑制不稳定性的可能性 ,为储存环中电子云不稳定性的前沿科学研究和BEPCⅡ工程设计提供了有意义的结
3) SEY
二次电子产额
1.
Measurement of SEY resulting from some materials building accelerator vacuum chamber;
加速器真空室常用材料二次电子产额的测量
2.
A system for measuring secondary electron yield(SEY)of some accelerator vacuum chamber construction material had been set up successfully by the optimization design of electron gun、design of measurement circuit and selection of measurement method.
通过电子枪的优化设计、测量电路的设计以及测量方法的选择,成功设计了一种加速器真空室常用材料二次电子产额的测量装置。
4) the Yield of Single Particle
单离子产额
6) yield perion pair
离子对产额
补充资料：二次离子质谱仪
分子式：
CAS号：
性质：SIMS又称离子探针(ion probe)。利用一次离子束作为探针轰击试样，使试样物质表面产生二次离子，通过分析此二次离子以达到对试样分析的仪器。二次离子质谱仪可进行表面和界面的薄层分析，了解试样的三维元素组成。仪器一般包括四部分(1)产生、加速和聚焦一次离子束的离子枪；(2)放置、移动样品，产生并加速二次离子的试样室；(3)使二次离子按质荷比分离的质量分析器；(4)检测显示系统。
CAS号：
性质：SIMS又称离子探针(ion probe)。利用一次离子束作为探针轰击试样，使试样物质表面产生二次离子，通过分析此二次离子以达到对试样分析的仪器。二次离子质谱仪可进行表面和界面的薄层分析，了解试样的三维元素组成。仪器一般包括四部分(1)产生、加速和聚焦一次离子束的离子枪；(2)放置、移动样品，产生并加速二次离子的试样室；(3)使二次离子按质荷比分离的质量分析器；(4)检测显示系统。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条