1) secondary ion imaging
二次离子像
2) Secondary ion image (SIM)
二次离子像(SIM)
3) secondary ion
二次离子
1.
The diffussoin of the Boron in transient liquid diffusion bonding area and its neighborhood in the Aero turbo engine using the Boron nuclear reaction particle tracking micrography and secondary ion mass spetrum of the ion explorer are studied.
利用改进的硼的核反应产物粒子径迹显微照相技术和离子探针的二次离子质谱分析方法 ,探明了硼在航空发动机涡轮叶片瞬时液相扩散连接区及其邻域的分布 ,发现硼的扩散是一个多级反应过程 。
4) Secondary electron(SE)image
二次电子(SE)像
5) Secondary electron image(SEI)
二次电子成像
6) secondary ion mass spectrometry
二次离子质谱
1.
The dopant profiles in silicon sample implanted by BF 2 are measured using secondary ion mass spectrometry (SIMS) and spreading resistance probe (SRP) techniques.
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布 。
补充资料：二次离子质谱仪
分子式：
CAS号：
性质：SIMS又称离子探针(ion probe)。利用一次离子束作为探针轰击试样，使试样物质表面产生二次离子，通过分析此二次离子以达到对试样分析的仪器。二次离子质谱仪可进行表面和界面的薄层分析，了解试样的三维元素组成。仪器一般包括四部分(1)产生、加速和聚焦一次离子束的离子枪；(2)放置、移动样品，产生并加速二次离子的试样室；(3)使二次离子按质荷比分离的质量分析器；(4)检测显示系统。
CAS号：
性质：SIMS又称离子探针(ion probe)。利用一次离子束作为探针轰击试样，使试样物质表面产生二次离子，通过分析此二次离子以达到对试样分析的仪器。二次离子质谱仪可进行表面和界面的薄层分析，了解试样的三维元素组成。仪器一般包括四部分(1)产生、加速和聚焦一次离子束的离子枪；(2)放置、移动样品，产生并加速二次离子的试样室；(3)使二次离子按质荷比分离的质量分析器；(4)检测显示系统。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条