1) digital interferometry
数字干涉
1.
Base on the digital interferometry method and phase-shift-frequency-shift principle,formulas for the ultrasonic speckle digital interferential measurement are deduced.
提出了用超声散斑干涉法来测量物体的位移,并且基于数字干涉和相移-频移技术对超声散斑数字干涉测量法进行了初步的理论推导。
2) digital interferometer
数字干涉仪
1.
Then,it analyzes such key technologies as the baseline configuration of high-precision digital phase detector and wideband digital interferometer and phase unwrapping.
提出了基于数字干涉仪测向技术的无源测向定位系统,简述了其工作原理和工程实现方法,对高精度数字鉴相和宽带数字干涉仪基线配置及解相位模糊等关键技术进行了阐述,并给出了系统性能测试结果及与国外相关系统的情况对比。
2.
A fast high precision single observer passive location algorithm under a low signal-to-noise ratio is proposed,which based on the variable baseline digital interferometer.
提出了一种低信噪比条件下基于可变基线数字干涉仪的新型高精度快速单站无源定位算法,给出了系统设计方案。
3.
Moreover, the high-accuracy DOA estimation algorithm using digital interferometer and all these algorithms DSP implementations are also studied.
基于辅助源的相关校正理论,研究了通过在天线馈电口输入辅助信号,再对信号求相关来实现对阵列通道不一致性的校正;并分析了基于多基线数字干涉仪体制的测向原理,利用五元圆形天线阵列估计出了地面目标的到达角。
3) digital holographic interferometry
数字全息干涉术
1.
Visualization of domain inversion region characteristics in RuO_2:LiNbO_3 crystal by digital holographic interferometry;
利用数字全息干涉术观察RuO_2:LiNbO_3晶体中畴反转的区域特性
2.
Base on the principle of digital holographic interferometry, two lensless Fourier transform holograms representing two different deformation states of object field are captured by CCD.
根据数字全息干涉术的基本原理,利用CCD分别记录物场状态变化前后的无透镜傅里叶变换全息图,通过数值再现分别得到不同状态下物场的复振幅分布,从而直接得到不同状态下物场间的干涉条纹图样。
4) digital speckle pattern interferometry
数字散斑干涉
1.
In dynamic measurement field,when using digital speckle pattern interferometry,we always deal phase with time-average method and spatial carrier phase-shifting method.
在动态测试领域中,数字散斑干涉技术常用到的相位处理方法有时间平均法和空间载波相移法。
2.
A digital speckle pattern interferometry(DSPI)hoed on a double-pulsed Nd:YAG laser system has been approached.
研究了一种基于脉冲Ｎｄ：ＹＡＧ激光系统的数字散斑干涉技术。
5) digital interferometer
数字式干涉仪
1.
Compared with traditional method of extracting the phase difference information in time domain,extracting the phase difference information in frequency domain in direction finding system of digital interferometer can raise greatly the precision of phase discrimination and adaptive capability to signals.
数字式干涉仪测向体制中的相位差信息在频域上提取,与传统的在时域提取相比能大大提高低信噪比条件下鉴相精度及对信号的适应能力。
6) DSPI
数字散斑干涉
1.
A technique for measuring phase field produced displacement under impact loading using digital speckle pattern interferometry (DSPI) with combining the digital subtraction and add mode is presented.
在撞击载荷下的数字散斑干涉法 ( DSPI)中 ,本文联合应用加法和减法两种模式提出了位相测试技术 。
2.
The phase modulation of digital speckle pattern interferometry (DSPI) is discussed theoretically.
提出一种可绕Ｚ轴转动的粗糙平板（参考物体）实现相位调制，该方法在不改变电子散斑干涉术（ＥＳＰＩ）或数字散斑干涉术（ＤＳＰＩ）系统装置的情况下，可用于微小离面位移场（例如最大离面位移为λ）的测量，以及复杂形变的离面位移场的自动测
3.
In this dissertation,As a new micro-imaging and precision metering technology,DSPI has not been applied into all kinds of instruments in our country until now,on the other hand,there isn t replacement for it in some special applied field.
本论文主要研究了数字散斑干涉技术(DIGITAL SPECKLE PATTERNINTERFEROMETER，后文简称DSPI)，数字散斑干涉技术的应用在国内尚属空白，该技术在理论和实用领域均有新颖和独到之处。
补充资料：X射线干涉术
利用 X射线相继通过多块布喇格衍射晶体后产生的干涉现象来研究晶体缺陷和测定晶体基本参量的一种高精度技术。1965年第一台X射线干涉仪的出现，开辟了X 射线光学的新领域。
常用的X射线干涉仪可分为两类。
三晶干涉仪 1965年U.邦泽和M.哈特研制成功透射型X射线干涉仪。随后，X射线干涉技术和理论得到迅速发展，先后出现了反射型(1966)和混合型(1968)等多种类型的干涉仪,其光学原理及衍射束强度分布均由X射线衍射动力学平面波理论及球面波理论得到解释。图1是最常用的LLL型干涉仪示意图。分束器S、镜面 M和分析器A三者同在一块完整晶体上加工而成。当X射线入射到S，从衍射动力学理论可知，对于"厚"晶体，μt＞10,μ和t分别为晶体的吸收系数和厚度，只有布洛赫波的波节与散射原子平面重合的一支偏振波能通过晶体,其透射波离开S时分成相干的直射束和衍射束。镜面 M的作用是使两束分离的相干X射线重合，在分析器A前面产生驻波干涉条纹。分析器 A的作用是把原子尺度的驻波干涉条纹放大为宏观尺度的X射线叠栅条纹。如果S、M、A晶片严格相同并严格对准，那么在垂直于直射束或衍射束的观察面上只看到均匀的X射线强度分布,但若干涉仪内某一组元点阵参量或取向发生微小变化，都会使叠栅条纹产生相应的变化。叠栅条纹垂直于两倒易矢量之差，其间距与两倒易矢量之差的绝对值成正比。
二晶干涉仪 如果干涉仪的两块晶片由同一块晶体加工而成，当两组元同时满足布喇格定律，并且，它们之间存在点阵参量或取向的微小差别，即会产生叠栅条纹。1951年，有人首先在电子显微镜上观察到此现象。1965年日本的千川纯一观察到X射线的这种现象。图2是二晶干涉仪的几何示意图。X射线通过分束器S,相干的直射束和衍射束在出射面附近部分重叠，产生驻波干涉。通过分析器A观察到放大的X射线叠栅条纹。
应用 X射线干涉术是一种高精度的检测技术,在晶体缺陷研究方面，可用来观察缺陷所引起的微小点阵参量失配(精确度达Δd/d＝10-8)，晶体点阵中的微小角偏转（精度达10-8弧度）,精确测定位错的伯格斯失量以及用作X射线相差显微镜；在晶体学基本参量测量方面,用来精确测定 X射线折射率、晶胞参量以及晶体结构因子等基本参量；在计量学方面,可与光学干涉仪配合用作X射线波长的精确测定以及测定晶体材料的阿伏伽德罗常数，这是探索建立质量自然基准中很有希望的一种方案。
参考书目
L.V.Azaroff,et al.,X-Ray DiffRaction,McGraw-Hill,Inc., New York, 1974.
Z.G.Pinsker,Dynamical Scattering of X-Rays in Crystals, Springer-Verlag, Berlin,Heidelberg,1978.
常用的X射线干涉仪可分为两类。
三晶干涉仪 1965年U.邦泽和M.哈特研制成功透射型X射线干涉仪。随后，X射线干涉技术和理论得到迅速发展，先后出现了反射型(1966)和混合型(1968)等多种类型的干涉仪,其光学原理及衍射束强度分布均由X射线衍射动力学平面波理论及球面波理论得到解释。图1是最常用的LLL型干涉仪示意图。分束器S、镜面 M和分析器A三者同在一块完整晶体上加工而成。当X射线入射到S，从衍射动力学理论可知，对于"厚"晶体，μt＞10,μ和t分别为晶体的吸收系数和厚度，只有布洛赫波的波节与散射原子平面重合的一支偏振波能通过晶体,其透射波离开S时分成相干的直射束和衍射束。镜面 M的作用是使两束分离的相干X射线重合，在分析器A前面产生驻波干涉条纹。分析器 A的作用是把原子尺度的驻波干涉条纹放大为宏观尺度的X射线叠栅条纹。如果S、M、A晶片严格相同并严格对准，那么在垂直于直射束或衍射束的观察面上只看到均匀的X射线强度分布,但若干涉仪内某一组元点阵参量或取向发生微小变化，都会使叠栅条纹产生相应的变化。叠栅条纹垂直于两倒易矢量之差，其间距与两倒易矢量之差的绝对值成正比。
二晶干涉仪 如果干涉仪的两块晶片由同一块晶体加工而成，当两组元同时满足布喇格定律，并且，它们之间存在点阵参量或取向的微小差别，即会产生叠栅条纹。1951年，有人首先在电子显微镜上观察到此现象。1965年日本的千川纯一观察到X射线的这种现象。图2是二晶干涉仪的几何示意图。X射线通过分束器S,相干的直射束和衍射束在出射面附近部分重叠，产生驻波干涉。通过分析器A观察到放大的X射线叠栅条纹。
应用 X射线干涉术是一种高精度的检测技术,在晶体缺陷研究方面，可用来观察缺陷所引起的微小点阵参量失配(精确度达Δd/d＝10-8)，晶体点阵中的微小角偏转（精度达10-8弧度）,精确测定位错的伯格斯失量以及用作X射线相差显微镜；在晶体学基本参量测量方面,用来精确测定 X射线折射率、晶胞参量以及晶体结构因子等基本参量；在计量学方面,可与光学干涉仪配合用作X射线波长的精确测定以及测定晶体材料的阿伏伽德罗常数，这是探索建立质量自然基准中很有希望的一种方案。
参考书目
L.V.Azaroff,et al.,X-Ray DiffRaction,McGraw-Hill,Inc., New York, 1974.
Z.G.Pinsker,Dynamical Scattering of X-Rays in Crystals, Springer-Verlag, Berlin,Heidelberg,1978.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条