1) Dual-polarization interferometry
双偏振极化干涉测量技术
3) polarimetry
[,pəulə'rimitri]
极偏振测量术
4) two-pass differential interferometry technique
双轨道差分干涉测量技术
6) Fabry–Perot interferometry technology
Fabry-Perot干涉测量技术
1.
This article introduces the fiber optical sensing system based on Fabry–Perot interferometry technology.
对Fabry–Perot干涉测量技术的原理及基于该技术的光纤传感系统作了介绍,分析了Fabry-Perot干涉测量技术原理并推导了有关计算公式,展望此类技术在大坝安全监测中的应用。
补充资料：偏振光的干涉
| 偏振光的干涉 polarized light，interference of 线偏振光叠加后产生的干涉 。D.F.J.阿拉戈和A.J.菲涅耳于1816年利用杨氏干涉装置做了最早的偏振光干涉实验，对确立光的横波性有重要意义。偏振光的干涉通常利用各向异性的晶片来实现。如图1，P1和P2是两平行放置的偏振片（或其他起偏器），它们的偏振化方向互相垂直（称正交偏振片）。以自然光垂直入射，若两偏振片间无各向异性物体，则光不能通过P2 ；若在两者间插进各向异性的晶片C，则将有光通过P2，光源为白光时，在P2后还能观察到绚丽的色彩，这是偏振光干涉的结果，称显色偏振。
设晶片光轴OO′与其表面平行，从P1透出的线偏振光的振幅为A1，振动方向与晶片光轴夹a 角，在晶片中将分解成传播方向相同的o光和e光（见双折射），振幅分别为A10和A1e，它们的振方向互相垂直 。从晶片透出的两振动只有与P2的偏振化方向平行的分量才能通过P2，两振幅分量为A20＝A2e ＝ A1sinacosa ，振动方向沿同一直线（图2），相位差为  于是产生干涉。上式中d为晶片厚度，π是由于投影引起的相位差。若P1和P2的偏振化方向互相平行（称平行偏振片），振动的投影情况如图3 。参与相干叠加的两振动一般有不同的振幅，相位差为 从P2透出的光的干涉强度由相位差决定，对一定的晶片，干涉强度与波长λ有关。光源用白光时，有些波长达干涉极大，另一些波长达干涉极小，故呈现一定的色彩，称为干涉色。转动晶片或任一偏振片，色彩将跟着变化。若晶片厚度或主折射率不均匀，将出现不同干涉色的分布。以会聚的线偏振光入射到晶片时，将产生具有特殊形状的干涉图样，通过对干涉图样的分析可确定晶体的光轴取向。
偏振光的干涉普遍用于对岩石晶体的鉴别和分析，常根据干涉色色调来比较不同晶体的主折射率，借助于补偿器（见波片）还可判断晶体的正负性。在光测弹性和光波调制等技术领域也有重要应用。 |
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参考词条