1) two-beam polarization interferometer
双光束偏振干涉仪
2) polarization beam interferometer
偏振光干涉仪
1.
A novel interleaved demultiplexer based on polarization beam interferometer is proposed.
为实现更窄信道间隔的密集波分复用 ,提出了一种基于偏振光干涉仪的新型Interleaver解复用器 ,分析了结构组成与基本工作原理 ,对其进行了初步的测试实验 ,该器件所分开的DWDM系统两组波长功率均衡 ,隔离度分别为 1 0 6dB和 1 4 6 4dB ,- 1dB带宽分别为 0 7nm和 0 4nm。
3) dual beam interferometer
双光束干涉仪
4) Polarization interferometer
偏振干涉仪
1.
Through spectral slicing by using a polarization interferometer(PI),the multi-wavelength pulses are obtained and can be aligned as a higher repeat frequency pulse source with proper wavelength spacing due to the dis.
通过一个偏振干涉仪(PI)进行光谱切片,形成多波长脉冲。
5) polarization interference imaging spectrometer
偏振干涉成像光谱仪
1.
Analysis of the transmittance of modified Savart polariscope in the static large field of view polarization interference imaging spectrometer;
稳态大视场偏振干涉成像光谱仪中视场补偿型Savart偏光镜透射率研究
2.
Analysis and evaluation of Glan-Taylor prism s image quality in a new polarization interference imaging spectrometer;
新型偏振干涉成像光谱仪中格兰-泰勒棱镜像质分析与评价
3.
The transmittance of Savart polariscope in polarization interference imaging spectrometer;
新型偏振干涉成像光谱仪中Savart偏光镜透射率的研究
6) polarization-insensitive fiber-optic Michelson interferometer
偏振无关Michelson光纤干涉仪
1.
The visibility of polarization-insensitive fiber-optic Michelson interferometers
偏振无关Michelson光纤干涉仪的可见度
补充资料：偏振光的干涉
| 偏振光的干涉 polarized light，interference of 线偏振光叠加后产生的干涉 。D.F.J.阿拉戈和A.J.菲涅耳于1816年利用杨氏干涉装置做了最早的偏振光干涉实验，对确立光的横波性有重要意义。偏振光的干涉通常利用各向异性的晶片来实现。如图1，P1和P2是两平行放置的偏振片（或其他起偏器），它们的偏振化方向互相垂直（称正交偏振片）。以自然光垂直入射，若两偏振片间无各向异性物体，则光不能通过P2 ；若在两者间插进各向异性的晶片C，则将有光通过P2，光源为白光时，在P2后还能观察到绚丽的色彩，这是偏振光干涉的结果，称显色偏振。
设晶片光轴OO′与其表面平行，从P1透出的线偏振光的振幅为A1，振动方向与晶片光轴夹a 角，在晶片中将分解成传播方向相同的o光和e光（见双折射），振幅分别为A10和A1e，它们的振方向互相垂直 。从晶片透出的两振动只有与P2的偏振化方向平行的分量才能通过P2，两振幅分量为A20＝A2e ＝ A1sinacosa ，振动方向沿同一直线（图2），相位差为  于是产生干涉。上式中d为晶片厚度，π是由于投影引起的相位差。若P1和P2的偏振化方向互相平行（称平行偏振片），振动的投影情况如图3 。参与相干叠加的两振动一般有不同的振幅，相位差为 从P2透出的光的干涉强度由相位差决定，对一定的晶片，干涉强度与波长λ有关。光源用白光时，有些波长达干涉极大，另一些波长达干涉极小，故呈现一定的色彩，称为干涉色。转动晶片或任一偏振片，色彩将跟着变化。若晶片厚度或主折射率不均匀，将出现不同干涉色的分布。以会聚的线偏振光入射到晶片时，将产生具有特殊形状的干涉图样，通过对干涉图样的分析可确定晶体的光轴取向。
偏振光的干涉普遍用于对岩石晶体的鉴别和分析，常根据干涉色色调来比较不同晶体的主折射率，借助于补偿器（见波片）还可判断晶体的正负性。在光测弹性和光波调制等技术领域也有重要应用。 |
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参考词条