1)  SOI
硅-绝缘体
2)  silicon on insulator(SOI)
硅-绝缘体技术
3)  lateral SOI diode
硅-绝缘体横向二极管
4)  silicon
1.
Spectrophotometric determination of silicon in steel with rhodamine B-hetersilicomolybdic acid system in microemulsion medium;
微乳介质-罗丹明B-硅钼杂多酸体系分光光度法测定钢中硅
2.
Silicon Induced Inhibitory Effects of Cadmium Uptake by Chinese Cabbage Shoots;
施硅对白菜地上部吸收重金属镉的抑制效应
3.
Research progress on inhibitory effects of silicon on cadmium absorption by plants;
施硅对抑制植物吸收重金属镉的效应研究进展
5)  Si
1.
Stretchable Si Thin Film Prepared by PECVD;
等离子辅助化学气相沉积制备可延展的硅薄膜
2.
Effect of C and Si content on zinc corrosion morphology of carbon steel;
碳、硅含量对碳钢锌腐蚀层形态的影响
3.
Effects of Si on Rice Seedling Growth and Uptake of Cd in the Low Level of Cd Pollution;
硅对低镉污染水平下水稻幼苗生长及吸收镉的影响
6)  silica
1.
Interactions between sodium, silica and sulphur in a low-rank coal during temperature-programmed pyrolysis;
低阶煤程序升温热解过程中钠、硅和硫间的相互作用(英文)
2.
Optimized synthesis and characterization of hexagonal mesoporous silica SBA-3;
六方介孔硅基分子筛SBA-3合成条件的优化与表征
3.
Preliminary Study of Effcts of Organic Fertilizers on Soil Silica Adsorption;
有机肥料对土壤硅素吸附的影响
参考词条
补充资料:绝缘体上外延硅


绝缘体上外延硅
silicon on insulator

绝缘体上外延硅Sixieon。n insulator在绝缘衬底上制备半导体薄膜的生长技术。简称501。早期发展的绝缘衬底是蓝宝石。由于蓝宝石上外延硅存在衬底的自掺杂、载流子迁移率低、衬底和外延层界面应力大和衬底价格昂贵等缺点,得不到广泛应用。 501是在硅单晶衬底上形成5102绝缘层作衬底,并在绝缘层上进行硅外延增加厚度,用腐蚀法在该衬底上形成隔离硅岛后加工成电路。 较典型的501技术包括以下3种。①区熔再结晶技术。1979年由美国林肯实验室开拓。可采用激光或石墨加热器,近年又发展电子束、卤素钨灯加热等。这项技术经历图形外延、侧向籽晶外延和区熔再结晶。②氧离子注入(S IMOX)。以离一子束向硅单晶片注入高剂量氧离子,退火后形成埋层5102,再进行硅外延。用于超大规模集成电路SIMOX的最佳条件是:加热至500℃以上,以150一200 keV能量进行高浓度氧离子注入,注入浓度1一 2x101犯m一3,注入后在大于1250℃高温下退火。衬底和器件质量取决于注入能量、束流和温度等。③隔离硅外延。近年由林肯实验室发展的。它克服了材料缺陷如突出物、圆片翘曲和表面粗糙,提高了501材料质量。 用501结构材料加工大规模集成电路可降低互补金属一氧化物一半导体(CMOS)器件衬底的寄生电容,提高开关速度,增强抗宇宙射线能力和增加集成度。已应用于CMOS随机存贮器、运算器等。但501技术至今尚未进入商品化。今后除寻求发展新技术外,必须努力提高原有各种技术的实用性,如更好地控制硅膜中的缺陷和杂质,提高工艺的可靠性,进一步降低成本等,使之早日实现商品化。 (莫金现)
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