1) Wavelength scanning interferometry
波长扫描光纤干涉仪
2) scanning interferometer
扫描干涉仪
1.
The article describes a new method of measuring semiconductor laser spectrum by plane scanning interferometer.
本文描述了用平面扫描干涉仪测量半导体激光光谱的一种新方法。
2.
Based on the theory of the resonant cavity,using a scanning interferometer with a confocal resonator,the experiment device that can measure and demonstrate the longitudinal mode of the He-Ne laser is developed.
根据谐振腔的理论,利用共焦腔扫描干涉仪,制作了激光器纵模测量装置,使用该装置可以演示和简单测量He-Ne激光器的纵模。
3.
In this paper, we suggest a new method fot frequency and power stabilizationon the two-ferquency and two-mode He-Ne laser-scanning interferometer method.
本文重点导出了双纵模He-Ne激光强度差ΔI(t)的时谱公式,分析了ΔI(Δv)的调谐特性,并在此基础上提出了一种实现双频双模He-Ne激光器稳频稳幅的简单方法一一扫描干涉仪法。
3) Scanning White-light Interfeerometry profilometer
白光扫描干涉轮廓仪
1.
This paper presents a Z direction micro-displacement platform with diffraction grating interference displacement sensor , the position accuracy is obtained in the Scanning White-light Interfeerometry profilometer.
本文介绍了一种以衍射光栅作为计量标准器的垂直方向上的微位移工作台,用来实现在白光扫描干涉轮廓仪的表面形貌测量中Z方向上的精密定位,该工作台实现了轮廓仪的闭环测量和控制,文章重点讲述了光栅信号处理的硬件及软件细分技术,以及压电陶瓷驱动电路的原理和工作台闭环定位控制的流程。
4) scanning Fabry–Perot interferometer
扫描F-P干涉仪
5) multiple scan interferometer
多扫描干涉仪
6) fiber optic interferometer
光纤干涉仪
1.
Study on dynamic scanning characteristics of wavelength scanning fiber optic interferometer;
波长扫描光纤干涉仪动态扫描特性的研究
2.
By theoretical and mathematical analysis of the output signal of laser intensity of a fiber optic interferometer,the characteristics and function of the signal are demonstrated essentially.
为解决干涉型光纤传感器的相位漂移问题,通过对双光束光纤干涉仪输出光强信号的理论分析和数学推导,阐述了信号各种成份的特点和作用,设计出基于反馈控制稳定工作点的干涉仪解调方案。
3.
A new wavelength scanning fiber optic interferometer for absolute distance measurement was proposed.
介绍了一种新的可用于绝对距离测量的波长扫描光纤干涉仪，建立了测量系统及波长扫描的模型，分析了波长扫描的随机漂移对测量的影响，提出了对光源扫描性能的要求。
补充资料：扫描干涉仪
使法布里-珀罗标准具（见法布里－珀罗干涉仪）两反射面间的光程连续地改变（扫描）的仪器。它的两种典型结构如图所示。图a是把标准具置于真空室中，用调节真空室的气压去改变折射率实现扫描。图b是把标准具置于密封的真空室中，利用改变施加到电致伸缩元件上的电压去调节两反射面的间隔，实现扫描。
把扫描干涉仪、单色仪和光电接收技术结合起来可研究光谱线的超精细结构，也就是光谱线的各光谱成分的波长和强度。扫描干涉仪在研究激光纵模方面意义更大,并且往往不需单色仪,只需使用激光器、隔离器、扫描干涉仪、光电探测电路组成的系统，即可测定激光各纵模波长和强度。
把扫描干涉仪、单色仪和光电接收技术结合起来可研究光谱线的超精细结构，也就是光谱线的各光谱成分的波长和强度。扫描干涉仪在研究激光纵模方面意义更大,并且往往不需单色仪,只需使用激光器、隔离器、扫描干涉仪、光电探测电路组成的系统，即可测定激光各纵模波长和强度。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条