1) non-scan des ign for testability
非扫描可测性设计
2) scan design
扫描设计
1.
The paper introduces DFT tech-niques used in the design of a general-purposed CPU chip,including techniques of scan design,memory build-in-self-test,and IEEE Std.
文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149。
2.
This paper presents a switc h-level scan design method which solves the problems of area, speed and test ti me at the gate level.
本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题 ,给出了一种开关级扫描插入方法 ,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题 ,改进了测试时间问题。
3) scanning design
扫描设计
1.
The quality of CT diagnosis depends on the quality of scanning which is related to accurate scanning design and quality control on work process.
而CT扫描工作的质量与准确的CT扫描设计和CT工作流程质量控制息息相关。
4) Non-linear variable-angle scanning spectrum
非线性可变角扫描光谱
5) non-linear variable-angle synchronous scanning
非线性可变角同步扫描
6) Full scan testing
全扫描设计
补充资料：连续性与非连续性(见间断性与不间断性)
连续性与非连续性(见间断性与不间断性)
continuity and discontinuity
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说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条