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1)  wavepacket interferometer
波包干涉仪
2)  wave packet interference
波包干涉
3)  beat-wave interferometer
拍波干涉仪
1.
The several measurement methods of beat-wave interference fringe fraction used in beat-wave interferometer are described.
描述在拍波干涉测长中使用的几种拍波干涉条纹尾数测量方法,提出一种拍波锁相型对准原理,介绍和比较拍波干涉仪的三个原理方案,讨论测量方法和测量精度等问题。
4)  microwave interferometer
微波干涉仪
1.
In this paper,wepresent a microwave interferometer which is used for the measurement of plasma electrondensity in EACVD.
本文介绍了用于测量 EACVD 中等离子体电子密度的微波干涉仪,给出了测量原理、干涉仪结构及测量结果。
2.
This paper briefly introduces the theory and design of the microwave interferometer.
将微波干涉仪系统用于测量弹道靶尾迹的电子密度,这对航天、国防等事业发展都有着重要的意义。
5)  acoustic interferometer
声波干涉仪
6)  wavelength interferometer
波长干涉仪
补充资料:波的干涉


波的干涉
Interference of waves

  乙甲4万洲eosr 又+冗。(30) 相位差中加人二弧度是因为在51处反射过来的光有了相移。这个1800相移的实验证明已在用洛埃镜干涉的一节里给出。如果平板材料具有的折射率低于其周围介质的折射率,则在式(30)中仍需加上二,因为此时由52反射的光束将有,弧度的额外相移。为什么实际上必须附加这个相移,可从对Sl和S:两表面几乎重合时的反射光强度进行分析而看出。如果没有这个附加相移,那么两支反射光将具有相同的相位,从而反射将是强烈的。对于厚度几乎等于零的薄膜来说,这个结论肯定是不正确的。相长干涉会在。沪二Zm二(其中m为整数)的那些波长上发生。如果表面51和S:平行,则干涉条纹将出现在光学上的无穷远处。如果这两个表面不平行,d将成为表面上位置的函数,而干涉条纹将出现在靠近表面的地方。条纹的强度将依赖于表面的部分反射率。 光学表面的检验对于这种干涉条纹的观测可以用来确定表面的轮廓。待检验的表面被紧贴地放在一块光学平面板上。单色光为两个表面所反射,并按图8所示的那样加以检验。用这种条纹做的最早实验之一是由牛顿完成的.在玻璃镜上放置一个凸透镜并用单色光照射,则在接触点周围会出现一系列圆形干涉条纹,称为牛顿环。由各环的间距可以确定透镜的曲率。 薄膜由于有这种双表面型的干涉条纹,漂浮在水面上的油膜呈现色彩。这里的两表面是油与空气间的界面和油与水间的界面。膜的厚度接近于一种可见光的波长。如果膜的厚度正好能使绿色光在特定方向发生相消干涉,则红色光和蓝色光仍能反射,从而膜将具有强烈的紫色。甲虫翅的彩色就是由这一常见现象引起的。 沟楷光谱振幅分裂法清楚地说明了产生干涉所必须满足的另一条件。从光源发出的光束不仅要来自相同的各点,而且必须在几乎相同的时刻由这些点发出。在图8中C处反射的光离开光源的时刻比在S;和S:间来回通过的光要晚。如果两个表面离得太远,则相长干涉和相消干涉的光谱区域变得太靠拢,以致不能分辨。在利用波阵面分裂法产生干涉的情况下,从光源上不同部分发出的光仅在足够短的时间间隔里对之进行考察才能看成是相干的。在幅度分裂的情况下,只有在足够窄的频率范围内进行考察,才能看到由相距较远的两个表面所引起的干涉。
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参考词条