1) wave-front shearing interferometer
波前错位干涉仪
2) shearing interferometer
错位干涉仪
3) wave-front shearing interferometer
波陈面剪错干涉仪
4) SESPI
错位电子散斑干涉仪
1.
This technic has been used in the instrument of IC wafer Stress Analyzer and Shear Electronic Speckle Pattern Interferometry(SESPI).
最后将错位相移器应用于集成电路硅片薄膜应力分布测试仪及错位电子散斑干涉仪之中。
5) Bates wave-front shearing interferometer
贝茨波前剪切干涉仪
6) millimeter wave interferometer front-end
毫米波干涉仪前端
补充资料：单光束散斑干涉法
见散斑干涉法。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条