1) X-ray reflectivity at low-angle
X-射线小角反射
2) small angle X-ray
小角X射线
1.
The effects of polyvinylpyrrolidone(PVP) on the phase stability and structures of the mixture membranes of 1,2-Dielaidoyl-sn-glycero-3-phosphoethanolamine(DEPE) have investigated by small angle X-ray scattering.
用小角X射线(SAX)研究聚乙烯吡咯烷酮(PVP)对磷脂酰乙醇胺(PE)脂质膜结构的影响。
3) grazing incidence X-ray reflectivity
X射线掠角反射
1.
Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity;
微晶硅薄膜的表面粗糙度及其生长机制的X射线掠角反射研究
4) small angle X-ray diffraction
小角X射线衍射
1.
It has been investigated that the super-molecular structures in liquid crystalline states are made up of DEPE (1,2-dielaidoyl-sn-glycero-3-phosphatidyl-ethanolamine), sphingomyeline, monosialiogan- glioside-Gm1 and cholesterol by small angle X-ray diffraction.
用磷脂酰乙醇胺(DEPE)、鞘磷脂(Sphingomyeline,Sph)、神经节苷脂(Gm1)和胆固醇(Chol)模拟了生物膜超分子体系液晶态结构,通过用小角X射线衍射(SAXD)对混合脂体系液晶态结构进行了研究,鉴定出了两种立方相:即Im3m(Q229)和Pn3m(Q224)结构。
5) Small Angle X-Ray Scattering
X射线小角散射
1.
Determination of particle size distribution of nanometer-sized powder by small angle X-ray scattering method;
X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布
2.
5—20 nm in fibers was studied using the small angle X-ray scattering technique.
用X射线小角散射技术研究了600,700,900,1200,1300℃制备的碳化硅(SiC)纤维中在0。
3.
By means of small angle X-ray scattering, the fractal dimension D for carbonfiber nanometer micropore inner surface is studied.
应用X射线小角散射方法研究了炭纤维纳米微孔内表面特征的分形维数D。
6) small angle X-ray scattering
小角X射线散射
1.
Experimental investigation of insensitive explosive C_6H_6N_6O_6 by small angle x-ray scattering technique;
三氨基三硝基苯材料微孔结构的小角x射线散射实验研究
2.
Size evaluation and fractal characteristic of nano-sized nickel powder by small angle X-ray scattering;
纳米镍粉内团聚的小角X射线散射的分形表征
3.
Analysis of nano-micropore in different carbon fiber by small angle X-ray scattering;
小角X射线散射对不同碳纤维的比较和分析
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条