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1)  spin relaxation
自旋弛豫
1.
A spin relaxation lifetime of 490±70 ps was obtained at room temperature.
获得初始自旋偏振度约为0·2,此结果支持在圆偏振光激发下,重、轻空穴带的跃迁强度比为3∶1,而不支持1∶1或1∶0·94的观点·同时获得自旋偏振弛豫时间为490±70ps,定性分析了自旋弛豫机理,认为BAP机理是电子自旋弛豫的主要机理。
2.
Under non-resonant excitation, the spin relaxation lifetimes of 3.
实验发现,在非共振激发条件下,厚度为1/3单层的InAs亚单层中电子自旋弛豫寿命长达3。
3.
In this paper,a brief review on spin relaxation in semiconductors is given.
本文对半导体中的自旋弛豫过程给出一个简要的回顾,介绍了半导体材料从体材料到量子阱、量子线、量子点不同维数的结构中各种自旋弛豫过程,主要关注了自旋去相位和相干控制。
2)  Spin-spin relaxation
自旋-自旋弛豫
3)  spin excitation delay
自旋激发弛豫
1.
The spin excitation delay for granular films with ferromagnetic granules;
含铁磁颗粒的颗粒膜自旋激发弛豫研究
4)  Spin-lattice relaxation
自旋-晶格弛豫
5)  ~(13)C spin relaxation
 ̄(13)C核自旋弛豫
6)  electron spin relaxation
电子自旋弛豫
1.
It is found that spin relaxation lifetime of electrons lengthens with increasing excitation energy density for both samples, and the annealed (Ga,Mn)As has shorter carrier recombination and electron spin relaxation lifetimes as well as larger Kerr rotation angle than the as-grown (Ga,Mn).
运用飞秒时间分辨抽运-探测克尔光谱技术,研究了室温下退火及未退火(Ga,Mn)As的载流子自旋弛豫的激发能量密度依赖性,发现电子自旋弛豫时间随激发能量密度增加而增大,而在同一激发能量密度下,退火样品比未退火样品具有更短的载流子复合时间、电子自旋弛豫时间和更大的克尔转角,显示DP机理是室温下(Ga,Mn)As的电子自旋弛豫的主导机理。
补充资料:自旋-自旋弛豫


自旋-自旋弛豫


  磁共振成像术语。又称T2弛豫或横向弛豫(transverse relaxation),指垂直于外磁场B0方向的磁化矢量的指数性衰减过程。磁共振成像时,对置于外磁场B0中的自旋系统施加90°射频脉冲,则自旋系统被激励,其净磁化矢量指向与外磁场B0垂直;射频脉冲终止后,被激励的质子与邻近的原子核之间发生相互作用,逐渐失去相位,净磁化矢量指向恢复与外磁场平行,该过程称自旋-自旋弛豫。自旋-自旋弛豫过程无能量交换。
  
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