1) RBS
背散射（RBS）
2) Rutherford backscattering spectrometry (RBS)
卢瑟福背散射（RBS）
3) Peanut embryo
卢瑟福背散射RBS
4) γ ray back-scattering
γ背散射
1.
The present paper introduces the principle of two nuclear technique for coal ash analysis,which are double-energy γ ray transmission method and single-energy γ ray back-scattering method.
介绍两种燃煤灰分核分析方法,即双能γ透射法和单能γ背散射法的基本原理,用Monte-Carlo计算技术进行模拟计算,分析影响测量结果准确性的相关因素并得出结论。
5) back dispersion method
背散射法
1.
An online study on the sedimentation characteristic of electrostatic cyclonic air filter is carried out with the Kompton back dispersion method.
应用康普顿背散射法对静电旋风空气滤清器的壁面沉积层进行在线研究,并分析壁面沉积规律与除尘效率之间的关系。
6) RBS
背散射
1.
According to Rutherford backscattering spectrum (RBS) from Ti-implanted iron and energy interval between surface spectrum of titanium and iron, it can be calculated their concentration depth profile.
根据试验测得的离子注入层的卢瑟福背散射谱(Rutherford backscattering spectrum ),充分利用铁钛表面谱的能量间隔来计算可分离部分的铁、钛浓度深度分布,进而在一定的近似下,推出背散射谱不可直接分离部分的Ti、Fe的谱高度,最后采用迭代法把背散射谱转换成钛的浓度深度分布曲线,结果表明此转换方法是合理的且能说明钛离子注入的一些改性机理。
2.
The thickness of alloy layer is about 650nm by RBS.
透射电镜 (TEM)分析证明在注入层内可形成 Al1 2 Mo晶体 ;背散射 (RBS)分析证明 Al1 2 Mo的厚度可达 6 0 0至70 0 nm;结合强束流脉冲注入的特点 ,根据碰撞理论提出了解释钼反常分布的“蜂窝”模型。
3.
RBS AND XRD ANALYSIS OF Al IMPLANTED BY HIGH FLUX DENSITIES Ta IONS;
借助卢瑟福背散射 (RBS)和X射线衍射 (XRD)分析 ,我们发现表面合金层中形成了Al3Ta相 ,Ta在铝中能产生 10 %以上的原子百分浓度 ,其深度高达 2 0 0nm。
参考词条
补充资料：背散射电子
分子式：
CAS号：
性质： 高能电子束轰击样品时，从距样品表面0.1～lμm深度范围内散射回来的入射电子。该电子的能量近似入射电子能量。在扫描电镜技术中，高能入射电子束轰击样品表面时，由于电子与物质间的相互作用是一个复杂的过程，故从样品中可激发出各种有用的信息，通过二次电子成像，可以了解样品表面的形貌、受激区域的成分以及有关样品力学、磁学、电子学等性能，其中背散射电子像则着重反映样品的表面形貌和原子序数的分布等。
CAS号：
性质： 高能电子束轰击样品时，从距样品表面0.1～lμm深度范围内散射回来的入射电子。该电子的能量近似入射电子能量。在扫描电镜技术中，高能入射电子束轰击样品表面时，由于电子与物质间的相互作用是一个复杂的过程，故从样品中可激发出各种有用的信息，通过二次电子成像，可以了解样品表面的形貌、受激区域的成分以及有关样品力学、磁学、电子学等性能，其中背散射电子像则着重反映样品的表面形貌和原子序数的分布等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。