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1)  XPS depth analysis
XPS剖面分析
1.
XPS depth analysis shows that a carbon-enriched layer of.
XPS剖面分析、Raman光谱表明:纤维表面有一层厚约100 nm的富碳层,由表及里铁的含量逐渐增加;随着温度的升高游离碳的排列逐渐规整化。
2)  XPS surface structure analysis
XPS表面结构分析
1.
The dried salt-lakes saline soils sources of the dust storm in Beijing —— the individual particles analysis and XPS surface structure analysis.;
北京沙尘暴的干盐湖盐渍土源——单颗粒物分析和XPS表面结构分析
3)  XPS analysis
XPS分析
1.
XPS analysis of surface of G3 nickel base alloy under high H_2S and CO_2 partial pressure;
高温高压H_2S/CO_2G3镍基合金表面的XPS分析
4)  X-ray photoelectron spectroscopy analysis
XPS分析
5)  XPS
XPS分析
1.
XPS characterization of the molybdenum films before and after H+ ion irradiation;
H~+辐照前后Mo涂层表面的XPS分析
2.
XPS analyses for the tungsten films before and after H~+ ion irradiation;
H~+辐照前后W涂层表面的XPS分析
3.
5mol/L H2SO4 and by XPS analysis.
对Fe-Cr、Fe-Al、Fe-Cr-Al和Fe-Mn-Al-Cr合金的钝化膜进行了XPS分析研究,并在0。
6)  analysis on XPS spectrum
XPS谱分析
补充资料:剖面分析
分子式:
CAS号:

性质:系指分析样品中杂质的剖面分布特征,一般可采用离子束分析、全反射X射线荧光分析、同步辐射X射线分析、冷中子活化分析以及瞬发辐射分析等。现已可测定杂质在样品中的三维分布特征。

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参考词条