1) characterization of wavelet
小波刻划
2) characterization
[英][,kærəktəraɪ'zeɪʃn] [美]['kærəktəraɪ'zeʃən]
刻划
1.
A kind of Equivalent Characterization of Bloch Type Space;
Bloch型空间的一种等价刻划(英文)
2.
New characterizations of metrizerble space in terms of g-fuctions;
度量空间的g-函数新刻划
4) mechanical modification
机械划刻
1.
Two different techniques to fabricate nano scale reference materials are investigated in detail: AFM tip induced local surface oxidation on Si substrate and mechanical modification of Au film with an AFM tip.
提出了两种制备纳米结构样板的方法 :Si基底上的原子力显微镜 (AFM )探针诱导阳极氧化工艺和Au膜上的AFM探针机械划刻工艺 。
5) moving indentation test
刻划实验
6) ruled grating
刻划光栅
1.
Analytical method of the diffraction characteristic of ruled grating based on profile fitting function;
基于槽形函数拟合的刻划光栅衍射特性分析方法
补充资料：刻划
1.雕刻;刻印。 2.用文字等描摹表现。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条