1) test clock generation
测试时钟产生
2) clock test
时钟测试
1.
It can reduce the time used to generate the test vectors by using the clock test.
并使用时钟测试来减少生成测试向量所需的时间。
3) TCK Testing Clock
测试时钟
4) clock generation
时钟产生
1.
A low jitter PLL for 250 MHz clock generation circuit was presented by using 1st silicon .
25μm标准CMOS工艺设计的250 MHz时钟产生电路中低抖动锁相环的实例。
5) Clock generator
时钟产生
1.
A clock generator based on the low power phase-locked loop(LLP),which is capable of generating clock for radio frequency identification(RFID) with ASK 100% and 10% modulation was designed.
设计了一种时钟产生电路,该电路采用基于低功耗锁相环(PLL)的方法,用于产生13。
2.
As the mainboard can hardly provide a clock with the frequency of more than 200MHz, we need a high frequency clock generator (HFCG) inside the chip.
因此，芯片内部就需要有一个稳定的高频时钟产生电路。
3.
The two phase non-overlap clock generator is one of the building blocks of the switch capacitor circuit.
在开关电容电路中,一个必不可少的单元便是两相不交叠时钟产生单元,它产生不交叠时钟,控制节点不会同时被两个电压驱动;产生提前关断的时钟,以减少电荷注入效应的影响。
6) test-per-clock
每时钟测试
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条