1) electron backscattering diffraction(EBSD)
背散射衍射(EBSD)
2) EBSD
电子背散射衍射(EBSD)
1.
In this paper, the effects of metallurgical processing on mechanical properties, microstructure and texture of ferritic hot-rolled IF steel were investigated by means of electron back-scatter diffraction (EBSD), X-ray diffractometer (XRD), optical microscope (OM), scanning electron microscope (SEM), electro-probe microanalyzer (EPMA), transmission elect
本文以铁素体区热轧IF钢为对象,利用电子背散射衍射(EBSD)、X射线衍射(XRD)、光学显微镜(OM)、扫描电镜(SEM)、电子探针(EPMA)、透射电镜(TEM)以及拉伸试验等测试方法,深入系统地研究了冶金因素对热轧IF钢组织、织构和深冲性能的影响。
2.
The advanced electron backscatter diffraction(EBSD) technique is used to study the annealed samples(after cold rolling) of a non-oriented silicon steel with low carbon and low silicon.
借助电子背散射衍射(EBSD)技术测量和计算了无取向硅钢再结晶退火后再结晶百分比、晶粒尺寸、取向差分布等参数,分析了再结晶退火温度对无取向硅钢晶粒大小、微观取向和耐蚀性的影响。
3) electron back scattering diffraction technique(EBSD)
电子背散射衍射技术(EBSD)
1.
The grain orientation distribution,grain angle,microstructure texture and stability of retained austenite of a cold-rolled TRIP steel treated by different process were investigated by electron back scattering diffraction technique(EBSD).
利用电子背散射衍射技术(EBSD)技术分析了两种不同热处理工艺下的TRIP800钢板取向分布、晶粒角度、显微织构与残余奥氏体的分布及其稳定性,并结合试验钢的力学性能进行了讨论。
4) EBSD(electron backscatter diffraction)
EBSD(电子背散射衍射)
5) in-situ EBSD
原位电子背散射衍射(in-situ EBSD)
6) EBSD
电子背散射衍射
1.
METALLOGRAPHIC SAMPLE PREPARATION FOR EBSD;
金属电子背散射衍射试样的制备技术
2.
THE APPLICATION OF EBSD IN STEEL AND PIPELINE RESEARCH;
电子背散射衍射分析技术在钢铁及管线钢研究领域中的应用
3.
Electron back scattered diffraction (EBSD) was used to measure the grain size of HPT treated samples.
使用电子背散射衍射技术测量了处理后试样品粒尺寸沿径向的分布。
补充资料：背散射电子
分子式：
CAS号：
性质： 高能电子束轰击样品时，从距样品表面0.1～lμm深度范围内散射回来的入射电子。该电子的能量近似入射电子能量。在扫描电镜技术中，高能入射电子束轰击样品表面时，由于电子与物质间的相互作用是一个复杂的过程，故从样品中可激发出各种有用的信息，通过二次电子成像，可以了解样品表面的形貌、受激区域的成分以及有关样品力学、磁学、电子学等性能，其中背散射电子像则着重反映样品的表面形貌和原子序数的分布等。
CAS号：
性质： 高能电子束轰击样品时，从距样品表面0.1～lμm深度范围内散射回来的入射电子。该电子的能量近似入射电子能量。在扫描电镜技术中，高能入射电子束轰击样品表面时，由于电子与物质间的相互作用是一个复杂的过程，故从样品中可激发出各种有用的信息，通过二次电子成像，可以了解样品表面的形貌、受激区域的成分以及有关样品力学、磁学、电子学等性能，其中背散射电子像则着重反映样品的表面形貌和原子序数的分布等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条