1) polarizing interferometer
偏光干涉仪
1.
A common-path polarizing interferometer is developed for the sample deformation detection.
结合激光干涉及图像处理技术研究测量透明颗粒形状及监测其变形的光学系统 ;对共路偏光干涉仪进行改进 ,使之更好地测量由温度场变化引起的小试件变形 ;对柱及球形试件进行理论和数值分析及实验研究 。
2) Nomarski interferometer
Nomarski偏光干涉仪
3) polarization beam interferometer
偏振光干涉仪
1.
A novel interleaved demultiplexer based on polarization beam interferometer is proposed.
为实现更窄信道间隔的密集波分复用 ,提出了一种基于偏振光干涉仪的新型Interleaver解复用器 ,分析了结构组成与基本工作原理 ,对其进行了初步的测试实验 ,该器件所分开的DWDM系统两组波长功率均衡 ,隔离度分别为 1 0 6dB和 1 4 6 4dB ,- 1dB带宽分别为 0 7nm和 0 4nm。
4) polarization interference
偏光干涉
1.
The method of measuring out quartz crystal's birefringence dispersion character through polarization interference and processing correlated data was introduced.
介绍了偏光干涉测量石英晶体双折射率色散特性及其相关数据处理方法。
2.
From the point of view of optic system limitation of fiber optic gyro,the phenomena of polarization interference which suffered from the fusion error of polarization maintaining fiber and unperfect optical element is studied.
从光纤陀螺光学系统缺陷角度,研究了由于光纤陀螺保偏光纤融接误差及光学器件的不完善引起的偏光干涉效应,理论分析并实验研究了偏光干涉效应对传输光谱的影响及其对光纤陀螺性能的影响。
3.
According to birefringent effect of uniaxial crystal and principle of polarization interference, the design principle of Lyot filter is analyzed by using Muller matrix.
根据单轴晶体的双折射效应及偏光干涉原理 ,利用Muller矩阵 ,对Lyot滤光片的设计原理进行了分析 ,指出该滤光片中各晶片对最小厚度晶片的厚度比可以有非整数比存在 ,给出了厚度为整数比和非整数比两个设计实例 ,并对其透射光谱进行了比较和讨论。
5) Polarized light interference
偏光干涉
1.
The electrooptic effect of the optical active crystals is studied in the experimental set of polarized light interference.
研究了旋光晶体在偏光干涉实验中的电光效应 ,给出了旋光晶体在偏光干涉实验中出射光强与晶体旋光性之间关系的表达式I =A20 cos2 β -(π/λ) (nl-nr)l ,以及与旋光晶体电光效应之间关系的表达式I =A20 cos2 β -(π/λ) (nl-nr)l+ (π/λ) (n2 -n1)l 。
6) polarized interference
偏光干涉
1.
Measurement of the temperature coefficient of maximal birefringent index of crystal by polarized interference spectrum
测量晶体最大双折射率温度系数的偏光干涉法
2.
The absorption coefficient of nematic liquid crystal BL-009 was measured by polarized interference method.
利用偏光干涉法测量了向列相液晶BL-009的吸收系数,得到了入射光波长在500～1600nm变化时的液晶吸收谱线,讨论了该曲线随液晶盒所加电压的变化情况。
补充资料：波面干涉仪
用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为λ/10～λ/100, λ为检测用光源的平均波长。常用的波面干涉仪为泰曼干涉仪和斐索干涉仪。
泰曼干涉仪由两个准直透镜、分束器、标准平板以及标准球面镜所组成。单色光经小孔、光源准直透镜后被分束器分解成参考光束和检测光束。二者分别由标准平面和检测系统自准返回后，再经分束器，通过观测准直透镜重合，形成等厚干涉条纹，如图1所示。根据条纹的形状来判断被测件的光学质量。
用泰曼干涉仪检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，和检测无限或有限共轭距镜头的波面像差，只需在检测光路中，用一标准的平面或球面反射镜，或再附加一负透镜组，以形成平面的自准检测光束即可，分别如图1a、图1b、图1c、图1d、图1e所示。
斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，如图2b；后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组成，如图2b。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。
用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，如图2a、图2b、图2c所示。用斐索球面干涉仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约 1??m；也可以检测无限、有限共轭距镜头的波面像差，如图2d所示。
除了上述两种常用的干涉仪外，还有横向、径向剪切干涉仪，这种干涉仪没有参考波面。横向剪切干涉仪把被测光束分解成两个相同的，但相互横移的相干光束。径向剪切干涉仪则是把被测光束分解成波面面形相似，但横截面大小不相同的两相干光束。干涉出现在两相干光束的重叠区域内。两者分别如图3、图4所示。该两种干涉仪有多种多样的形式，如平板式、棱镜式、透镜式、光栅式等。横向剪切干涉仪不能直接测得波面像差；径向剪切干涉仪系统误差稍大。虽然这两种干涉仪易于加工，但仍未能像泰曼干涉仪那样被广泛使用。
干涉图的分析，可用目视或照相，也可以在干涉仪上,配备光电探测器件和微处理机及终端系统,扫描、采样和分析干涉花样。称这种干涉仪为数字干涉仪。
泰曼干涉仪由两个准直透镜、分束器、标准平板以及标准球面镜所组成。单色光经小孔、光源准直透镜后被分束器分解成参考光束和检测光束。二者分别由标准平面和检测系统自准返回后，再经分束器，通过观测准直透镜重合，形成等厚干涉条纹，如图1所示。根据条纹的形状来判断被测件的光学质量。
用泰曼干涉仪检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，和检测无限或有限共轭距镜头的波面像差，只需在检测光路中，用一标准的平面或球面反射镜，或再附加一负透镜组，以形成平面的自准检测光束即可，分别如图1a、图1b、图1c、图1d、图1e所示。
斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，如图2b；后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组成，如图2b。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。
用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，如图2a、图2b、图2c所示。用斐索球面干涉仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约 1??m；也可以检测无限、有限共轭距镜头的波面像差，如图2d所示。
除了上述两种常用的干涉仪外，还有横向、径向剪切干涉仪，这种干涉仪没有参考波面。横向剪切干涉仪把被测光束分解成两个相同的，但相互横移的相干光束。径向剪切干涉仪则是把被测光束分解成波面面形相似，但横截面大小不相同的两相干光束。干涉出现在两相干光束的重叠区域内。两者分别如图3、图4所示。该两种干涉仪有多种多样的形式，如平板式、棱镜式、透镜式、光栅式等。横向剪切干涉仪不能直接测得波面像差；径向剪切干涉仪系统误差稍大。虽然这两种干涉仪易于加工，但仍未能像泰曼干涉仪那样被广泛使用。
干涉图的分析，可用目视或照相，也可以在干涉仪上,配备光电探测器件和微处理机及终端系统,扫描、采样和分析干涉花样。称这种干涉仪为数字干涉仪。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条