1) wafe yield
晶片成品率
2) Chip Yield
芯片成品率
3) per slice yield
薄片成品率
4) low yielding wafer
低成品率薄片
5) finished blank,finished crystal blank
成品晶体
6) slice resistivity
晶片电阻率
补充资料：成品检验(见成品验证)
成品检验(见成品验证)
finished product inspection: see finished product verification
山e叩Pinjian四n成品检脸(finishedp耐uct inspection)见成品脸证。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条