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1)  sos isolation technique
蓝宝石上硅结构隔离技术
2)  technology of silicon on sapphire(SOS)
蓝宝石上硅技术
3)  sos structure
蓝宝石上硅结构
4)  silicon on sapphire technology
蓝宝石上外延硅技术
5)  radiation tolerant sos
耐辐射蓝宝石上硅结构
6)  sos substrate
蓝宝石上硅结构衬底
补充资料:蓝宝石上外延硅


蓝宝石上外延硅
silieoxz0nsaPPhire

蓝宝石上外延硅Sslieo,飞on Sapphire在抛光好的蓝宝石(a一A1203)衬底上外延硅单晶薄膜的技术。简称505。这是为了改进半导体集成电路的隔离性能而发展的。方法是在硅薄膜上腐蚀成一个个彼此隔离的小岛,再在这些岛上制作各种元件,通过连线而构成集成电路。 505是1967年开始发展的。其方法包括真空蒸发、溅射、分子束外延(MBE)和化学气相沉积‘CVD)。CVD法产值高,成本低,是目前最成功的方法。用SIC14沉积温度太高,并产生HCI腐蚀衬底,不能获得高质量的外延层。高纯SIH“的热分解温度较低,又不会产生副产物,最适合于505技术。505异质外延生长的主要参数是生长温度和沉积速率。以光吸收因子凡表征外延层质量,满足互补金属一氧化物一半导体(CMOS)器件应用的FA蕊140 x 106em一2。 蓝宝石和硅的晶格不匹配,膨胀系数比硅大1倍,在冷却过程中产生10”一1。,odyn/cm的热应力,造成界面密度高、载流子迁移率低和少子寿命短。早期由于Si和HZ与衬底作用造成铝的自掺杂,使P型杂质进入外延层,妨碍了电阻率的控制,限制了505的应用。70年代随着外延工艺的改进,自掺杂得到了控制,已能重复生长载流子浓度约为10‘4cm一”的高阻硅。已研究用离子注入结合热退火、激光退火、高温氢(氦)退火和在衬底上溅射无定形缓冲层等方法改进外延层质量。 505材料的少子寿命短,不适于制作双极型器件,但最适合制备CMOS器件。CMOS器件的开关速度快,功耗低,集成度高,抗辐射能力强,受到军事部门的重视。由于价格昂贵,这些器件在民用方面受到限制。但制备工艺成熟,是目前唯一能达到商品水平的半导体/绝缘体的产品。用低压金属有机化合物气相沉积研制成功的Si/a一A1203/Si,具有与505相当的Si膜晶体质量和界面密度。它可作为一个发展方向,在未来取代505。(黄金现)
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参考词条