1) testability design
易测性设计
2) DFT
易测试性设计
1.
The DFT Technology for the Memory Units in ASIC;
针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术
3) Testable design
易测试设计
5) design for testability
测试性设计
1.
Diagnostic strategy design is an important task in the design for testability(DFT).
诊断策略优化设计是测试性设计中的一项重要内容。
2.
In this paper,an approach to design for testability in system level is studied based on structural model,including concept, theory and algorithms.
本文从结构模型出发 ,研究了系统级测试性设计的概念、理论和实现算法 ,并以动力调谐陀螺仪为例 ,进行了设计分析。
3.
Based on the analyses,a system BIT for the system is designed and achieved by using the technology of the design for testability of system BIT.
为提高某SINS/GPS组合导航系统的可靠性、维修性和测试性 ,针对该系统进行了系统级BIT测试需求分析 ,并在此基础上 ,应用系统级BIT测试性设计技术 ,设计并具体实现了该系统的系统级BIT。
6) design for testability
可测性设计
1.
Design For Testability of Mixed Analog and digital Integrated Circuits;
数模混合集成电路的可测性设计
2.
Design for Testability of a Novel High-Speed DCT in VLSI;
高速离散余弦变换VLSI实现的可测性设计
3.
A scan-based design for testability scheme is proposed for built-in self-test of pipelined FFT processor utilizing its highly regular architecture.
该方案充分利用FFT结构上的规则性,采用扫描的可测性设计,不需要对处理器内部基本功能单元作任何更改,且测试序列生成和响应压缩都可通过对已有功能模块如累加器的复用来完成。
补充资料：连续性与非连续性(见间断性与不间断性)
连续性与非连续性(见间断性与不间断性)
continuity and discontinuity
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说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条