1) ellipsometer
[,elip'sɔmitə]
椭圆(偏振)测厚仪
2) ellipsometer
[,elip'sɔmitə]
椭圆偏振仪
1.
Application of Ellipsometer in the Field of Nano-measurement;
椭圆偏振仪在纳米测量技术中的应用
2.
To correct measurement error of the optical thin film parameter measured by singal wavelengh ellipsometer,the error source of ellipsometer measuring film refractive index and thickness is analyzed base on metrical theory.
为了消除单波长消光椭圆偏振仪测量薄膜光学参数的测量误差,从椭圆偏振仪的测量原理和方法分析了椭圆偏振法测量薄膜折射率和厚度可能的误差来源。
3.
X-ray photoelectron spectroscopy,atomic force microscope and ellipsometer were used to c.
首先制作出了透明且光滑平整的无孔聚砜薄膜,然后以对叠氮苯甲酸为光敏剂,在λ=365 nm紫外光的辐照下,用二步法将聚乙二醇接枝在聚砜膜表面,通过X射线-光电子能谱分析、原子力学显微镜及椭圆偏振仪等测试手段,对接枝前后聚砜膜表面形貌进行了表征,证明接枝的聚乙二醇层呈刷状。
3) ellipsometry
[,elip'sɔmitri]
椭圆偏振仪
1.
Ellipsometry is an optical analytical technique used to determine the optical properties and morphology of a surface from measurements of the change in polarization state of reflecting light.
本论文的主要工作包括：通过模拟数据的计算详细分析了椭圆偏振仪数据处理的复杂性，讨论了测量误差和搜寻精度对准确求解的影响；采用四区域平均法测量，消除了椭偏仪各元件方位角误差引起的测量误差；将模拟退火算法引入到了椭偏仪的数据处理中，编制了一系列进行数据处理的程序，对模拟退火算法的冷却参数经过模拟计算进行了优化；针对厂家提供的标准薄膜样品和本实验自制的“SiN_x／玻璃”薄膜结构进行了测量和数据处理，得到了可靠的结果。
4) ellipsometer
[,elip'sɔmitə]
椭偏测厚仪
1.
The analyses of confirming the film thickness by the ellipsometer;
椭偏测厚仪确定薄膜真实厚度的分析
2.
Thickness measurement of transparent optoelectronic films with combination of spectrometer and ellipsometer;
紫外可见吸收光谱仪与椭偏测厚仪联用测量透明光电子薄膜的厚度
3.
The problems in the ellipsometer experiment are analyzed.
分析了高校椭偏测厚实验中存在的问题 ,成功研制出具有教学特点的多功能智能椭偏测厚仪和编制了一套该实验的CAI课件 。
5) ellipsometry measurement
椭圆偏振仪测量术
6) spectroscopic ellipsometry
椭圆偏振光谱仪
补充资料：测厚仪
分子式：
CAS号：
性质：测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产品的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用α、β、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计，目前还处在研制、试验阶段。
CAS号：
性质：测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产品的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用α、β、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计，目前还处在研制、试验阶段。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条