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1)  infrared spectroscopic ellipsometer
红外椭圆偏振光谱仪
1.
A type of infrared spectroscopic ellipsometer was designed and constructed to study the optical properties of materials in the 2.
研制成测量材料光学特性的红外椭圆偏振光谱仪,其测量波长范围为2。
2)  infrared spectroscopic ellipsometry
红外椭圆偏振光谱
1.
Study on optical properties of diamond films by means of infrared spectroscopic ellipsometry;
金刚石薄膜的红外椭圆偏振光谱研究
2.
The ulatra-visible transmission spectra and infrared spectroscopic ellipsometry were measured on the(1-x)Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-xPbTiO3(PMNT)thin film with different component.
通过对不同组分的铌镁钛酸铅(PMNT)薄膜的紫外-可见透射光谱以及红外椭圆偏振光谱的分析,利用Tauc-Lorentz(T-L)+Cauchy色散关系和经典中红外色散关系,得到了该材料在可见和中红外区的光学常数,发现在可见和中红外区,薄膜的折射率随着PT(PbTiO3)含量的增加而增大,但是薄膜的光学禁带宽度随之而减小。
3.
Optical properties of different oriented diamond films obtained by hot filament chemical vapor deposition(HFCVD) were measured by using infrared spectroscopic ellipsometry in the wavelength range of 2.
采用红外椭圆偏振光谱仪对HFCVD方法所制备的不同取向金刚石薄膜的光学参数进行了测量。
3)  spectroscopic ellipsometry
椭圆偏振光谱仪
4)  spectroscopic ellipsometery
光谱椭圆偏振仪
5)  ellipsometry [,elip'sɔmitri]
椭圆偏振光谱
1.
Ellipsometry Study on the ZnO Thin Film Prepared by A Novel Sol-Gel Method;
一种新型溶胶-凝胶方法制备ZnO薄膜的椭圆偏振光谱研究
2.
Electrochemical reactions of Ni(OH)_2/NiOOH system were studied by using in-situ spectroscopic ellipsometry and the conventional electrochemical methods.
应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法,研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化,以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律,采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征。
6)  ellipsometric spectroscopy
椭圆偏振光谱
1.
The characteristic of ellipsometric spectroscopy described the electrochemistry process were obtained.
研究了铜在H2 SO4溶液以及酸性NaCl介质中的腐蚀行为 ,现场获得了表征电化学过程的椭圆偏振光谱特征 。
2.
The hybridization of probe and sample on the silicon surface is studied with ellipsometric spectroscopy.
将单晶硅片硅烷化后 ,用戊二醛做醛基修饰 ,将 5′端氨基修饰寡核苷酸探针片段通过醛 氨共价键结合在硅片上 ,然后用椭圆偏振光谱法对探针和不同序列样品的杂交反应进行了研究 。
补充资料:傅里叶变换红外光谱仪
分子式:
CAS号:

性质:进行红外光谱研究和红外吸收光谱分析用的装置。由光源、迈克尔逊干涉仪(Michelson interferometer)、探测器和计算机组成。与色散型红外光谱仪工作原理不同。光源红外辐射通过迈克尔逊干涉仪变成干涉图,通过试样后得到带有样品信息的干涉图,经信号放大记录在磁带上,输入计算机处理。干涉图经模拟-数字转换器(A/D)计算后,再经数字-模拟转换器(D/A),由波数分析器扫描,便可由x-y记录器或绘图仪绘出透过率对波数关系的红外光谱图。

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参考词条